[发明专利]亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种亮灯缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；

按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；

将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；

计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；

若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。

2.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域的步骤，包括：

获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量；

根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息；

将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。

3.根据权利要求2所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，所述参考坐标点包括：位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息的步骤，包括：

计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标；

计算所述第二对角点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标。

4.根据权利要求3所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标的步骤，包括：

计算所述第一对角点的X坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为0；

计算所述第一对角点的Y坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为0。

5.根据权利要求3所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算第二参考坐标点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标的步骤，包括：

计算所述第二对角点的X坐标与所述最大偏移量的和，若所述和小于所述待测面板图像的宽，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的X坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的X坐标确定为所述待测面板图像的宽；

计算所述第二对角点的Y坐标与所述最大偏移量的和，若所述和大于所述待测面板图像的高，将所述和确定为所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标，否则，将所述待测像素区域的第二待测点的Y坐标确定为所述待测面板图像的高。

6.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配的步骤，包括：

按照所述预设模板图像在所述预设标准面板图像中的大小确定截取框；

移动所述截取框，在所述待测像素区域内截取多个不同的亮灯区域图像；

将所述预设模板图像分别与截取到的多个所述亮灯区域图像进行匹配。

7.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数的步骤，包括：

对所述预设模板图像和所述预设模板图像进行互相关操作，得到输出结果；

将所述输出结果进行归一化处理，得到所述亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数。