[发明专利]校正分析传感器测量数据的方法和校正测量数据的传感器

权利要求书

1.一种用于校正分析传感器(1)的测量数据的方法，其中，所述方法包括以下步骤：

-提供具有第一传感器单元(2)、数据存储器(3)、和计算单元(4)的分析传感器(1)，

其中，所述数据存储器(3)具有传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据，所述参数数据表示所述分析传感器(1)的预定应用领域和/或测量特性，

-通过所述第一传感器单元(2)收集测量数据，

-通过所述计算单元(4)从所述数据存储器(3)读取所述参数数据，

-通过所述计算单元(4)借助于参数数据校正所收集的测量数据，以便生成校正的测量数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述分析传感器(1)具有第一通信模块(5)，并且适于连接到所述分析传感器(1)外部的设备(10)的第二通信模块(11)，以便将校正的测量数据从所述分析传感器(1)发送到所述设备(10)。

3.一种用于校正分析传感器(1′、1″)的测量数据的方法，其中，所述方法包括以下步骤：

-提供具有第一传感器单元(2)、数据存储器(3)和第一通信模块(5)的分析传感器(1′、1″)，

其中，所述数据存储器(3)具有传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据，所述参数数据表示所述分析传感器(1′、1″)的预定应用领域和/或测量特性，

其中，所述第一通信模块(5)适于连接至所述分析传感器(1′、1″)外部的设备(10)的第二通信模块(11)，

-提供在所述分析传感器(1′、1″)外部的具有所述第二通信模块(11)和计算单元(12)的所述设备(10)，

-将所述第二通信模块(11)连接到所述第一通信模块(5)，

-通过所述第一通信模块(5)和所述第二通信模块(11)将所述传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据从所述分析传感器(1′、1″)发送到所述外部设备(10)，

-通过所述分析传感器(1′、1″)的第一传感器单元(2)收集测量数据，

-通过所述第一通信模块(5)和所述第二通信模块(11)将收集的测量数据从所述分析传感器(1′、1″)发送到所述外部设备(10)，

-通过所述外部设备(10)的计算单元(4)借助于所述传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据校正所收集的测量数据，以便生成校正的测量数据。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，所述分析传感器(1、1′、1″)的第一传感器单元(2)具有传感器特定和/或传感器类型特定的第一零或操作点，并且传感器特定的参数数据包括零或操作点移位的传感器特定和/或传感器类型特定的值，并且校正所收集的测量数据的步骤包括对所收集的测量数据进行改变，以使得校正的测量数据对应于具有第二零或操作点的第二传感器单元的测量数据，所述第二零或操作点相对于所述第一传感器单元(2)的第一零或操作点移位了所述零或操作点移位的值。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述分析传感器(1、1′、1″)的第一传感器单元(2)具有传感器特定和/或传感器类型特定的第一参考系统，并且所述参数数据包括针对参考系统移位的传感器特定和/或传感器类型特定的偏移值，并且校正所收集的测量数据的步骤包括对所收集的测量数据进行改变，使得校正的测量数据对应于具有第二参考系统的第二传感器单元的测量数据，所述第二参考系统相对于所述第一传感器单元(2)的第一参考系统移位了所述偏移值。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的方法，其中，所述传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据包括用于改变——尤其是用于线性化所收集的测量数据的温度依赖性的回归函数，以及校正所收集的测量数据包括对所收集的测量数据进行改变，使得校正的测量数据具有改变的——尤其是线性的温度依赖性。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据包括针对所述传感器单元(2)的传感器状态的传感器特定和/或传感器类型特定的评估的至少一个传感器特定和/或传感器类型特定的第一默认值。