[发明专利]一种天线测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种天线测试系统，其特征在于，包括测试仪表装置、权值配置装置和用于放置天线的暗室，所述权值配置装置包括射频矩阵和控制模块，所述控制模块与所述射频矩阵连接，所述测试仪表装置与所述射频矩阵连接，所述射频矩阵用于与所述天线连接，所述暗室设有探头，所述探头与所述测试仪表装置连接；

所述控制模块用于将所述射频矩阵的权值参数调节至目标参数，所述测试仪表装置用于向所述射频矩阵发送第一信号，所述射频矩阵用于根据所述第一信号和所述控制模块调节后的权值参数生成第二信号，并将所述第二信号发送至所述天线，以使所述天线根据所述第二信号生成第三信号并向所述探头发送所述第三信号，所述探头用于将所述第三信号发送至所述测试仪表装置。

2.如权利要求1所述的天线测试系统，其特征在于，所述射频矩阵为M×N的射频矩阵，所述射频矩阵设有N个第一端口和M个第二端口，N和M均为正整数；

所述射频矩阵包括第一功分单元、移相单元和第二功分单元，所述第一端口分别与所述测试仪表装置和所述第一功分单元连接，所述第一功分单元与所述移相单元连接，所述移相单元与所述第二功分单元连接，所述第二功分单元用于与所述天线连接；

或者，所述射频矩阵包括第一功分单元、移相衰减模块和第二功分单元，所述第一端口分别与所述测试仪表装置和所述第一功分单元连接，所述第一功分单元与所述移相衰减模块连接，所述移相衰减模块与所述第二功分单元连接，所述第二功分单元用于与所述天线连接。

3.如权利要求2所述的天线测试系统，其特征在于，还包括开关装置，所述开关装置分别与所述探头和所述测试仪表装置连接。

4.如权利要求3所述的天线测试系统，其特征在于，所述暗室内设有用于放置所述天线的可旋转转台；

所述测试仪表装置设有N个输出端和N个输入端，所述测试仪表装置的输出端与所述第一端口连接，所述开关装置设有多个静触头和N个动触头，所述静触头与所述探头连接，所述动触头与所述测试仪表装置的输入端连接；

所述开关装置根据探头位置和天线位置选择静触头，并控制所述动触头连接选定的静触头，以使所述选定的静触头对应的探头与所述测试仪表装置之间导通。

5.如权利要求4所述的天线测试系统，其特征在于，所述测试仪表装置包括N个信号收发模块，所述信号收发模块的输出端为所述测试仪表装置的输出端，所述信号收发模块的输入端为所述测试仪表装置的输入端；

所述信号收发模块为矢量网络分析仪，或者，所述信号收发模块包括信号源和频谱仪，或者，所述信号收发模块包括信号源和功率计。

6.如权利要求2所述的天线测试系统，其特征在于，当N等于1时，所述天线的数量为一个；

当N大于1时，所述天线的数量为至少两个。

7.如权利要求2所述的天线测试系统，其特征在于，还包括转接板，所述转接板的第一侧设有第一接口，所述转接板的第二侧设有第二接口，所述第一接口通过射频电缆与所述第二端口连接，所述第二接口通过快插连接件与所述天线连接。

8.如权利要求3所述的天线测试系统，其特征在于，还包括功放装置，所述功放装置设于所述测试仪表装置的输出端与所述权值配置装置之间，或者，所述功放装置设于所述测试仪表装置的输入端与所述开关装置之间。

9.一种天线测试方法，应用于如权利要求1至8中任一项所述的天线测试系统，其特征在于，包括：

将天线放置于暗室内；

将所述天线测试系统进行初始化处理；

调节权值配置装置的射频矩阵的权值参数至目标参数；

控制测试仪表装置向所述射频矩阵发送第一信号，以使射频矩阵根据所述第一信号和调节后的权值参数生成第二信号，并将所述第二信号发送至所述天线，所述天线根据所述第二信号生成第三信号并向所述探头发送所述第三信号，所述探头将所述第三信号发送至所述测试仪表装置；

返回所述调节权值配置装置的射频矩阵的权值参数至目标参数的步骤，直至调节次数达到预设次数。

10.如权利要求9所述的天线测试方法，其特征在于，所述将天线放置于暗室内中，将所述天线设于所述暗室的可旋转转台上；

所述天线测试系统还包括开关装置，所述开关装置设有多个静触头和至少一动触头，所述静触头与所述探头连接，所述动触头与所述测试仪表装置连接；

所述天线测试方法还包括：

于所述天线根据所述第二信号生成第三信号并向所述探头发送所述第三信号之前，控制所述开关装置根据探头位置和天线位置选择静触头，并控制所述动触头连接选定的静触头，以使所述选定的静触头对应的探头与所述测试仪表装置之间导通。