[发明专利]垃圾回收算法效率的测试分析方法及系统在审
申请号: | 202010254560.5 | 申请日: | 2020-04-02 |
公开(公告)号: | CN113495830A | 公开(公告)日: | 2021-10-12 |
发明(设计)人: | 本條嵩騎;纪亮 | 申请(专利权)人: | 深圳星火半导体科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F3/06 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 谢曲曲 |
地址: | 518051 广东省深圳市南山区西丽街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 垃圾 回收 算法 效率 测试 分析 方法 系统 | ||
本发明涉及一种垃圾回收算法效率的测试分析方法,其包括:获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据;根据所述协议报文数据分析得到垃圾回收算法效率性能数据。其优点是:通过对固态存储产品运行过程中的协议报文数据进行采集分析得到垃圾回收算法效率性能数据,由于垃圾算法效率性能数据是以协议报文数据为基础,因此性能分析可以达到指令级别要求,还通过对存垃圾算法效率性能数据进行性能图的绘制,实现存储产品文件碎片化的可视化分析目的。
技术领域
本发明涉及存储技术领域,特别是涉及一种垃圾回收算法效率的测试分析方法及系统。
背景技术
固态存储是采用电子存储介质进行数据存储和读取的一种技术,其突破了传统机械硬盘的性能瓶颈,拥有极高的带宽和IOPS(Input/Output Per Second每秒读写次数)性能。
Standard Size SD(SD)、micro SD(TF)、embedded Multi Media Card(eMMC)、Nano Memory Card(NM)等固态存储产品广泛应用于手机、平板、相机、车载等各个领域,它们面临的一个共同挑战是如何满足越来越高的性能和稳定性需求。
使用闪存(Nand Flash)为存储载体的固态存储设备的读写过程与传统的HDD有些本质上的不同,特别是在写入方面,HDD是可以直接对存储在磁碟上的数据进行覆盖写入的,NAND存储设备并不能这样,先擦除后写入的性能使得固态存储设备多了擦除的操作,而写入单位(Page,页)与擦除单位(Block,块)的不统一又让固态存储设备不停地在各个区块之间折腾,固态存储设备用久了需要擦除的区块就会越多,性能自然也会变慢。
好在,现在的固态存储设备都支持GC(Garbage Collection,垃圾回收)算法,存储空间中存在碎片化是导致垃圾回收算法启动的一个主要因素,因此,垃圾回收算法可以确保固态存储设备里即使写入再多东西也不会轻易掉速。
现有的,对于垃圾回收算法的运作效率的测试都是使用如IO Meter、CrystalDisk Mark这类软件先填充数据,持续观测性能的变化,根据性能变化来判断垃圾回收算法的效率。然而,这种方法只能从整体层面来推断垃圾回收算法的效率,并且判断结果往往并不准确。
发明内容
基于此,有必要针对现有的无法对垃圾回收算法效率进行准确判断的问题,提供一种垃圾回收算法效率的测试分析方法及系统,可以实现对垃圾回收算法的细粒度测试,进一步的还可以对存储空间的文件碎片化进行有效分析。
一种垃圾回收算法效率的测试分析方法,其特征是:
获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据;
根据所述协议报文数据分析得到垃圾回收算法效率性能数据。
上述的垃圾回收算法效率的测试分析方法,其中,所述的根据所述协议报文数据分析得到垃圾回收算法效率性能数据的步骤具体包括:
获取协议报文数据中读/写指令对应的忙碌开始时间、忙碌结束时间;
根据所述读/写指令对应的忙碌开始时间、忙碌结束时间得到垃圾回收算法效率性能数据。
上述的垃圾回收算法效率的测试分析方法,其中,所述的根据所述读/写指令对应的忙碌开始时间、忙碌结束时间得到垃圾回收算法效率性能数据的步骤具体包括:
根据以下计算公式得到所述读/写指令的忙碌时间:
Busy Time=Busy End-Busy Start;
式中,Busy Time表示所述读/写指令的忙碌时间,Busy End表示所述读/写指令的忙碌结束时间,Busy Start表示所述读/写指令的忙碌开始时间;
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