[发明专利]基于双光源的GIS设备内部的异物的检测方法及系统

说明书

本发明实施例公开一种基于双光源的GIS设备内部的异物的检测方法及系统。该检测方法包括：在可见光照射下采集所述GIS设备内部的异物候选区域的第一图像，以及，在紫外光照射下采集所述异物候选区域的第二图像；对所述第一图像进行显著性检测处理，得到第一显著性图像；对所述第二图像进行灰度化处理，得到第一灰度图像；对所述第一显著性图像和所述第一灰度图像分别进行归一化处理，得到第一归一化图像和第二归一化图像；将所述第一归一化图像和所述第二归一化图像融合，得到特征图像；计算所述特征图像的HOG特征；将所述HOG特征输入到SVM分类器后，输出所述异物候选区域是否具有异物的结果。本发明安全高效，可提高检测的准确度。

技术领域

本发明涉及GIS设备技术领域，尤其涉及一种基于双光源的GIS设备内部的异物的检测方法及系统。

背景技术

气体绝缘封闭组合电器(Gas Insulated Switchgear，GIS)是由断路器、隔离开关、接地开关、互感器、避雷器、母线、连接件和出线终端等元件组成的，全部封闭在金属接地外壳中的高压装置。GIS设备内部的异物指混入设备产品里的除GIS设备内部材质及部件以外的物质，在GIS设备投入运行之后，异物在机械振动及电场作用下逐渐暴露出来，导致GIS设备内部闪络、绝缘击穿等故障。在GIS设备中，常见的异物包括内部安装过程遗留物品、金属碎屑、橡胶粒子、外部塑料、纸屑和环境灰尘、粉末等。

现有技术采用X射线对GIS设备内部的异物进行检测。GIS设备的腔体内存在电气元件，导致各个部分厚薄不均匀，金属对X射线具有很强的屏蔽作用，故而导致有可能由于X射线剂量不够而使得成像质量较差，从而不利于对异物的检测。

发明内容

本发明实施例提供一种基于双光源的GIS设备内部的异物的检测方法及系统，以解决现有技术采用X射线进行检测易导致成像质量较差而不利于检测异物的问题。

第一方面，提供一种基于双光源的GIS设备内部的异物的检测方法，包括：

在可见光照射下采集所述GIS设备内部的异物候选区域的第一图像，以及，在紫外光照射下采集所述异物候选区域的第二图像；

对所述第一图像进行显著性检测处理，得到第一显著性图像；

对所述第二图像进行灰度化处理，得到第一灰度图像；

对所述第一显著性图像和所述第一灰度图像分别进行归一化处理，得到第一归一化图像和第二归一化图像；

将所述第一归一化图像和所述第二归一化图像融合，得到特征图像；

计算所述特征图像的HOG特征；

将所述HOG特征输入到SVM分类器后，输出所述异物候选区域是否具有异物的结果。

第二方面，提供一种基于双光源的GIS设备内部的异物的检测系统，包括：

第一采集模块，用于在可见光照射下采集所述GIS设备内部的异物候选区域的第一图像，以及，在紫外光照射下采集所述异物候选区域的第二图像；

第一处理模块，用于对所述第一图像进行显著性检测处理，得到第一显著性图像；

第二处理模块，用于对所述第二图像进行灰度化处理，得到第一灰度图像；

第三处理模块，用于对所述第一显著性图像和所述第一灰度图像分别进行归一化处理，得到第一归一化图像和第二归一化图像；

融合模块，用于将所述第一归一化图像和所述第二归一化图像融合，得到特征图像；

计算模块，用于计算所述特征图像的HOG特征；

输出模块，用于将所述HOG特征输入到SVM分类器后，输出所述异物候选区域是否具有异物的结果。