[发明专利]提升SSD性能的方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号: | 202010242300.6 | 申请日: | 2020-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN111459413A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
| 发明(设计)人: | 韩道静;郭芳芳;贾宗铭;胡颖颖;方华 | 申请(专利权)人: | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
| 代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 巫苑明 |
| 地址: | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 提升 ssd 性能 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种提升SSD性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取电压阈值表,所述的电压阈值表记录有SSD所有数据块读取数据时的电压阈值Vth;
根据电压阈值表上记录的电压阈值Vth定期间隔预读所有的数据块,动态调整数据块的电压阈值Vth,将调整后的电压阈值Vth更新到所述的电压阈值表中;
获取主机的数据读取指令,所述数据读取指令包含有待读取数据所在的目标数据块信息;
根据目标数据块信息从所述电压阈值表中获取对应目标数据块的目标电压阈值Vth;
根据获取到的目标电压阈值Vth进行数据读取。
2.根据权利要求1所述的提升SSD性能的方法,其特征在于,所述根据电压阈值表上记录的电压阈值Vth定期间隔预读所有的数据块,动态调整数据块的电压阈值Vth,将调整后的电压阈值Vth更新到所述的电压阈值表中的步骤,包括:
读取电压阈值表中的电压阈值Vth;
根据电压阈值Vth预读对应数据块上的数据,并判断读取是否成功;
若预读不成功,则调整对应数据块的电压阈值Vth,并重新执行根据电压阈值Vth预读对应数据块上的数据的步骤;
若预读成功,将该电压阈值Vth对应更新到电压阈值表中,并关联数据块保存。
3.根据权利要求1所述的提升SSD性能的方法,其特征在于,所述根据电压阈值Vth预读对应数据块上的数据的步骤,包括:
创建电压阈值自动扫描任务,通过电压阈值自动扫描任务定时预读取SSD每个数据块上的数据。
4.根据权利要求1所述的提升SSD性能的方法,其特征在于,所述获取电压阈值表步骤之前,包括,
为SSD新建一张电压阈值表,并将SSD所有数据块读取数据时的电压阈值Vth记录于所述的电压阈值表。
5.一种提升SSD性能的装置,其特征在于,包括:
表格获取单元,用于获取电压阈值表,所述的电压阈值表记录有SSD所有数据块读取数据时的电压阈值Vth;
预读调整单元,用于根据电压阈值表上记录的电压阈值Vth定期间隔预读所有的数据块,动态调整数据块的电压阈值Vth,将调整后的电压阈值Vth更新到所述的电压阈值表中;
指令获取单元,用于获取主机的数据读取指令,所述数据读取指令包含有待读取数据所在的目标数据块信息;
目标获取单元,用于根据目标数据块信息从所述电压阈值表中获取对应目标数据块的目标电压阈值Vth;
数据读取单元,用于根据获取到的目标电压阈值Vth进行数据读取。
6.根据权利要求5所述的提升SSD性能的装置,其特征在于,所述预读调整单元包括读取子单元、预读子单元、调整子单元和更新子单元;
所述读取子单元,用于读取电压阈值表中的电压阈值Vth;
所述预读子单元,用于根据电压阈值Vth预读对应数据块上的数据,并判断读取是否成功;
所述调整子单元,用于若预读不成功,则调整对应数据块的电压阈值Vth,并重新执行根据电压阈值Vth预读对应数据块上的数据;
所述更新子单元,用于若预读成功,将该电压阈值Vth对应更新到电压阈值表中,并关联数据块保存。
7.根据权利要求6所述的提升SSD性能的装置,其特征在于,所述预读子单元包括预读模块,所述预读模块用于创建电压阈值自动扫描任务,通过电压阈值自动扫描任务定时预读取SSD每个数据块上的数据。
8.根据权利要求5所述的提升SSD性能的装置,其特征在于,还包括表格新建单元,用于为SSD新建一张电压阈值表,并将SSD所有数据块读取数据时的电压阈值Vth记录于所述的电压阈值表。
9.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器及处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4中任一项所述的提升SSD性能的方法。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时可实现如权利要求1至4中任一项所述的提升SSD性能的方法。
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