[发明专利]一种RTK轴线放样测量方法

权利要求书

1.一种RTK轴线放样测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取控制线上两个控制点的平面坐标，所述控制线为建筑物主体结构的中轴线，所述控制点为所述控制线上的两个端点；

根据所述控制点的平面坐标获取所述控制点之间的坐标距离和方位角；

获取放样点的平面坐标，所述放样点位于待放样区域内且位于延长线上，所述待放样区域位于所述建筑物主体结构的外侧，所述延长线为所述控制线的延长线、所述建筑物主体结构的边线的延长线中的一条或两条以上，所述边线与所述控制线平行；

根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距。

2.如权利要求1所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述控制线为所述建筑物主体结构长度方向或宽度方向上的中轴线。

3.如权利要求1所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，根据所述控制点的平面坐标获取所述控制点之间的坐标距离和方位角的步骤，包括以下步骤：

根据计算两个控制点的坐标距离；

根据计算两个控制点的方位角；

其中，两个所述控制点分别为A点和B点，A点的平面坐标为(X_a，Y_a)、B点的平面坐标为(X_b，Y_b)，L_AB为A点和B点之间的坐标距离，α_AB为A点和B点之间的方位角。

4.如权利要求1所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述放样点至少有两个。

5.如权利要求1或4所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述放样点位于所述控制线的延长线上，根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离和方位角的步骤，包括以下步骤：

根据或计算控制点与放样点之间的坐标距离；

根据或计算控制点与放样点之间的坐标距离；

根据计算放样点与控制点之间的方位角；

其中，控制点为A点和B点，放样点为C_i点，A点坐标为(X_a,Y_a)、B点坐标为(X_b，Y_b)，C_i点坐标为(X_i，Y_i)，L_AB为A点和B点之间的坐标距离，L_AC为A点和C点之间的坐标距离，α_AB为A点和B点之间的方位角，α_CA为C点和A点之间的方位角。

6.如权利要求1或4所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述放样点位于所述建筑物主体结构的边线的延长线上，根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距的步骤，包括以下步骤：

根据计算控制点与放样点之间的相对距离；

根据计算控制点与放样点的方位角；

根据α＝α′_CA-α_AB±360°计算夹角，再根据K＝cosα×L′_AC和P＝sinα×L′_AC计算控制点与放样点之间的里程差和偏距；

其中，控制点为A点和B点，放样点为C’_i点，A点坐标为(X_a,Y_a)、B点坐标为(X_b，Y_b)，C’_i点坐标为(X’_i，Y’_i)，L’_AC为A点和C’_i点的相对距离，α′_CA为C’_i点和A点的方位角，α_AB为A点和B点的方位角，α为夹角，K为C’_i点距离A点的里程差，P为C’_i点距离A点的纵向偏距。