[发明专利]一种具有栅极漏电流测试电路的IGBT测试系统

权利要求书

1.一种具有栅极漏电流测试电路的IGBT测试系统，其特征在于，所述IGBT测试系统包括：

基板（1）；

总控制器（2），所述总控制器（2）设置在所述基板（1）上；

栅极阈值电压测试电路（3），所述栅极阈值电压测试电路（3）与所述总控制器（2）连接，并用于与一个待测IGBT模组（7）连接；

集射极截止电流测试电路（4），所述集射极截止电流测试电路（4）与所述总控制器（2）连接，并用于与一个待测IGBT模组（13）连接；以及

栅极漏电流测试电路（19），所述栅极漏电流测试电路（19）与所述总控制器（2）连接，并用于与一个待测IGBT模组（20）连接；

所述总控制器（2）用于选择性控制栅极阈值电压测试电路（3）、集射极截止电流测试电路（4）以及栅极漏电流测试电路（5）中的一个或多个工作；

所述栅极阈值电压测试电路（3）用于检测与其连接的所述待测IGBT模组（7）的栅极阈值电压并将结果传递给所述总控制器；

所述集射极截止电流测试电路（4）用于检测与其连接的所述待测IGBT模组（13）的集射极电流并将结果传递给所述总控制器；

所述栅极漏电流测试电路（19）用于检测与其连接的所述待测IGBT模组（20）的栅极漏电流并将结果传递给所述总控制器。

2.根据权利要求1所述的一种具有栅极漏电流测试电路的IGBT测试系统，其特征在于，所述栅极阈值电压测试电路（3）、集射极截止电流测试电路（4）以及栅极漏电流测试电路（19）均设置在所述基板（1）上。

3.根据权利要求1所述的一种具有栅极漏电流测试电路的IGBT测试系统，其特征在于，所述栅极阈值电压测试电路（3）包括：

栅极阈值第一直流电压源（6），所述栅极阈值第一直流电压源（6）与所述待测IGBT模组连接；

栅极阈值第二直流电压源（8），所述栅极阈值第二直流电压源（8）与所述待测IGBT模组连接；以及

栅极阈值第一电压表（9），所述栅极阈值第一电压表（9）与所述待测IGBT模组连接；

所述栅极阈值第一直流电压源（6）用于为所述待测IGBT模组的集电极-发射极提供电压；

所述栅极阈值第二直流电压源（8）用于为所述待测IGBT模组的栅极-发射极提供电压；

所述栅极阈值第一电压表（9）用于测量栅极阈值电压并将结果传递给所述总控制器。

4.根据权利要求3所述的一种具有栅极漏电流测试电路的IGBT测试系统，其特征在于，所述栅极阈值电压测试电路（3）进一步包括：

栅极阈值第二电压表，所述栅极阈值第二电压表与所述待测IGBT模组连接；以及

栅极阈值第一电流表，所述栅极阈值第一电流表与所述待测IGBT模组连接；

所述栅极阈值第二电压表用于检测所述待测IGBT模组的集电极-发射极的电压；

所述栅极阈值第一电流表用于检测所述待测IGBT模组的集电极-发射极的电流。

5.根据权利要求1所述的一种具有栅极漏电流测试电路的IGBT测试系统，其特征在于，所述集射极截止电流测试电路（4）包括：

集射极截止电流直流电压源（10），所述集射极截止电流直流电压源（10）与所述待测IGBT模组连接；

集射极截止电流电压表（11），所述集射极截止电流电压表（11）与所述待测IGBT模组连接；以及

集射极截止电流电流表（12），所述集射极截止电流电流表（12）与所述待测IGBT模组连接；

所述集射极截止电流直流电压源（10）用于为所述待测IGBT模组提供电压；

所述集射极截止电流电压表（11）用于检测所述待测IGBT模组的集电极-发射极的电压；

所述集射极截止电流电流表（12）用于检测所述待测IGBT模组的集电极-发射极的电流并将结果传递给总控制器。