[发明专利]一种微振镜扫描结构、电能驱动系统及角度检测系统在审
| 申请号: | 202010230641.1 | 申请日: | 2020-03-27 |
| 公开(公告)号: | CN111273435A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
| 发明(设计)人: | 任建峰;雷成峰;黄土新 | 申请(专利权)人: | 昂纳信息技术(深圳)有限公司 |
| 主分类号: | G02B26/08 | 分类号: | G02B26/08 |
| 代理公司: | 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 | 代理人: | 陈嘉琪 |
| 地址: | 518000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 微振镜 扫描 结构 电能 驱动 系统 角度 检测 | ||
1.一种激光雷达的微振镜扫描结构,其特征在于:所述微振镜扫描结构包括磁铁、外框架、内框架和镜片框架,所述内框架上设置有第一绕组且自旋转设置在外框架内,所述镜片框架上设置有第二绕组和反射镜片,且自旋转设置在内框架内,所述磁铁设置在外框架外侧,且在外框架内形成磁场,所述第一绕组和第二绕组在通电后产生电磁力并在磁场中运动,以带动对应的内框架和镜片框架自旋转。
2.根据权利要求1所述的微振镜扫描结构,其特征在于:所述内框架通过第一扭转轴自旋转设置在外框架内,且所述第一绕组环绕设置在内框架上;所述镜片框架通过第二扭转轴自旋转设置在内框架内,且所述第二绕组环绕设置在镜片框架上,且所述反射镜片的镜面与镜片框架的自旋转轴平行设置。
3.根据权利要求1或2所述的微振镜扫描结构,其特征在于:所述内框架的自旋转轴与镜片框架的自旋转轴垂直设置。
4.根据权利要求1至3任一所述的微振镜扫描结构,其特征在于:所述内框架的自旋转轴与镜片框架的自旋转轴共面设置。
5.根据权利要求4所述的微振镜扫描结构,其特征在于:所述磁铁在外框架内形成的磁场磁力线方向与外框架的结构面平行设置或接近平行设置。
6.根据权利要求5所述的微振镜扫描结构,其特征在于:所述磁场磁力线方向与内框架自旋转轴的方向构成夹角;所述磁场磁力线方向与镜片框架自旋转轴的方向构成夹角。
7.一种微振镜扫描结构的电能驱动系统,其特征在于:包括如权利要求1-6任一所述的微振镜扫描结构和电流输入装置,所述电流输入装置分别向微振镜扫描结构的第一绕组和第二绕组输入正负驱动电流,所述第一绕组和第二绕组在通电后产生电磁力并在磁场中往复运动,以带动对应的内框架和镜片框架往复自旋转。
8.据权利要求7所述的电能驱动系统,其特征在于:施加于第一绕组的所述正负驱动电流为连续的电流驱动信号,且扫描频率可控,所述扫描驱动波形包括阶梯波、三角波、锯齿波和正弦波中的一种;以及,施加于第二绕组的所述正负驱动电流的驱动信号波形包括阶梯波、正弦波、三角波和PWM脉冲中的一种,且驱动信号可控。
9.据权利要求7所述的电能驱动系统,其特征在于:所述电流输入装置向第一绕组输入的第一驱动信号和向第二绕组输入的第二驱动信号频率为整数倍时实现固定线数扫描;或者,第二扫描轴驱动信号频率为第一驱动信号的非整数倍,以使各帧扫描线之间产生偏移。
10.一种微振镜扫描结构的角度检测系统,其特征在于:所述角度检测系统包括如权利要求1-6任一所述的微振镜扫描结构和所述角度检测装置检测微振镜扫描结构的反射镜片镜面反射方向。
11.据权利要求10所述的角度检测系统,其特征在于:所述微振镜扫描结构的反射镜片的正面为工作面,用于激光扫描,所述反射镜的背面可为镀膜处理,用于光电角度检测。
12.据权利要求11所述的角度检测系统,其特征在于:所述角度检测装置包括光源和光电式探测器;所述光源可以是LED、VCSEL和LD激光管中的一种,并朝向反射镜片背面发射光线,所述光电式探测器设置有四个,且分别设置在光源四周,获取从反射镜片反射回的光线。
13.据权利要求11所述的角度检测系统,其特征在于:所述角度检测系统包括光源和四象限探测器;所述光源可以是LED、VCSEL和LD激光管中的一种,并朝向反射镜片背面发射光线,所述四象限探测器和光源设置在反射镜片的同侧,所述四象限探测器获取从反射镜片反射回的光线。
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