[发明专利]基于双折射晶体视场效应的姿态角实时测量方法及装置有效
申请号: | 202010219763.0 | 申请日: | 2020-03-25 |
公开(公告)号: | CN111380501B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 江浩;张松;谷洪刚;刘世元 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01C1/00 | 分类号: | G01C1/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 孔娜;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 双折射 晶体 视场 效应 姿态 实时 测量方法 装置 | ||
本发明属于光学测量相关技术领域,其公开了一种基于双折射晶视场效应的姿态角实时测量方法及装置,装置包括相连接的高速偏振测量模块及物体姿态调整模块,高速偏振测量模块包括分别位于物体姿态调整模块相背的两侧的起偏单元及实时检偏单元;物体姿态调整模块包括姿态角控制器、分别连接于姿态角控制器的滚转角调节单元、俯仰角调节单元、偏航角调节单元、高度调节单元及双折射晶体。所述测量方法包括根据高速偏振测量模块测得光学参数进行物体姿态角实时提取算法,以及姿态角测量误差补偿方法。本发明适用性强,能够实现对附有双折射晶体的物体的姿态角大范围高精度实时原位测量。
技术领域
本发明属于光学测量相关技术领域,更具体地,涉及一种基于双折射晶体视场效应的姿态角实时测量方法及装置。
背景技术
姿态角是描述物体运动的重要参数,通常由偏航角俯仰角θ及滚转角ф组成。在精密制造,机器人控制,飞行器导航等领域,对姿态角大范围实时精确测量十分重要。传统的姿态角测量方法都是需整合多个传感器测量到的信息才能实现全姿态角测量。常用的姿态角传感器有陀螺仪、加速度计等。由于陀螺仪测量的是角速度而不是角度,因此在使用陀螺仪获取姿态角时需要考虑到积分误差等问题;而加速度计则容易受到振动的影响。因此,为了精确地测量物体地姿态角,这些测量系统往往通常需要配备多个陀螺仪和加速度计,这会增加整个系统的成本,也会增加系统的复杂程度。
近些年来,由于非接触、系统灵活,成本低,精度高和灵敏度高等优点,光学测量方法在姿态角测量中具有很大的潜力。目前基于光学测量姿态角的方法主要有:一种是基于磁性石榴石单晶偏振效应的滚转角测量方法,其能在较大范围内对滚转角进行测量;第二种是基于多芯光纤的光纤型布拉格光栅应变传感器,其能在滚转角在±2°、俯仰角在±15°方位内对物体姿态角进行测量;最后一种是基于激光自准直的方法,其能实现全姿态角测量,同时其分辨率为0.01弧秒,精度为0.5弧秒,但测量范围仅为60弧秒。目前已有的基于光学的姿态角测量方法一方面不能实现全姿态角实时测量,一方面对姿态角的测量范围太小。相应地,本领域亟待提出一种能够大范围实时原位全姿态角测量的装置及方法。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种基于双折射晶体视场效应的姿态角实时测量方法及装置,其结合了原位实时大范围高精度姿态角测量的测量需求,相应地设计了一种能够对任意姿态下的物体的姿态角进行测量与提取的装置及方法,该装置主要组件有能够大范围调整物体姿态的姿态调节模块,以及能够实时原位测量物体姿态变化的高速偏振实时测量模块。同时结合倾斜入射情况下,双折射晶体的穆勒矩阵形式的光学表征模型,及特殊测量配置下双折射晶体光学参数提取算法,以及视场角与姿态角对应关系,可以完成任意姿态下的附着有双折射晶体的物体的姿态角的大范围原位实时的高精度测量。此外,结合所测量到的任意时刻下的姿态角,还可以求得各姿态角变化的角速度及角加速度。同时,本发明能够适用于各种类型物体的姿态角测量,该测量方法不仅仅局限于透射式测量,也适用于反射式测量。
为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种基于双折射晶体视场效应的姿态角实时测量装置,所述装置包括相连接的高速偏振测量模块及物体姿态调整模块,所述高速偏振测量模块包括起偏单元及实时检偏单元,所述起偏单元及所述实时检偏单元分别位于所述物体姿态调整模块相背的两侧,且所述高速偏振测量模块安装在旋转底板上,所述旋转底板用于调节高速偏振测量模块的入射角,以实现反射和透射模式测量;
所述物体姿态调整模块包括滚转角调节单元、俯仰角调节单元、偏航角调节单元、高度调节单元、姿态角控制器,俯仰角实时测量单元及双折射晶体,所述俯仰角调节单元、所述偏航角调节单元及所述高度调节单元分别连接于所述姿态角控制器,所述滚转角调节单元设置在所述俯仰角调节单元上,所述俯仰角调节单元设置在所述偏航角调节单元上,所述偏航角调节单元设置在所述高度调节单元上;所述滚转角调节单元用于承载物体及双折射晶体,工作时,所述双折射晶体以及俯仰角实时测量单元附着于物体上;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010219763.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种自杀菌、自清洁的面料和汽车座椅椅套
- 下一篇:超声换能器件及制备方法