[发明专利]滑动开关的开关位置检测装置及方法

权利要求书

1.一种滑动开关的开关位置检测装置，所述滑动开关包括弹片以及至少两个开关位置区域，且相邻开关位置区域之间存在间隔区域，所述开关位置检测装置包括：

测量模块，被配置为输出用于确定所述滑动开关的开关位置的电参数测量值；

控制器，被配置为：

以预定采样频率从所述测量模块获取电参数测量值；

基于当前采样点之前的预设时间段内的电参数测量值序列生成待检测轨迹，

确定基准曲线轨迹中与所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹；以及

基于所述特定部分轨迹确定开关位置，

其中，所述基准曲线轨迹上的每个轨迹点的坐标指示：该轨迹点在所述至少两个开关位置区域和间隔区域上的位置点、以及该位置点处的基准电参数测量值。

2.根据权利要求1所述的开关位置检测装置，其中，确定基准曲线轨迹中与所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹包括：

对于所述待检测轨迹中的每个电参数测量值，确定所述基准曲线轨迹中与该电参数测量值相匹配的至少一个离散轨迹点；

基于分别与所述待检测轨迹中的每个电参数测量值相匹配的离散轨迹点，获得与所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹。

3.根据权利要求2所述的开关位置检测装置，其中，用于所述匹配的算法为隐马尔科夫模型算法，

其中，对于所述待检测轨迹中的每个电参数测量值，确定所述基准曲线轨迹中与该电参数测量值相匹配的至少一个离散轨迹点包括：

对于每个电参数测量值，确定基准电参数测量值与该电参数测量值的偏离在第一阈值范围内的至少一个离散轨迹点，并且

将所述至少一个离散轨迹点对应的位置点的集合作为该电参数测量值的候选位置点集，其中每个候选位置点的发射概率随着对应的基准电参数测量值与该电参数测量值的偏离增大而减小；

其中，基于分别与所述待检测轨迹中的每个电参数测量值相匹配的离散轨迹点，获得与所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹包括：

计算相邻电参数测量值的候选位置点集之间的状态转移概率矩阵，其中分别属于两个相邻电参数测量值的候选位置点集的两个候选位置点的距离越近，该两个候选位置点的状态转移概率越大；以及

基于每个候选位置点集中的每个候选位置点的发射概率以及相邻电参数测量值的候选位置点集之间的状态转移概率矩阵，确定与所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹。

4.根据权利要求3所述的开关位置检测装置，其中，基于每个候选位置点集中的每个候选位置点的发射概率以及相邻电参数测量值的候选位置点集之间的状态转移概率矩阵，确定与所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹包括：

将所述待检测轨迹中的第一个电参数测量值的候选位置点集中的每个候选位置点的发射概率作为状态概率；

对于所述待检测轨迹中的第i个电参数测量值，根据第i-1个电参数测量值的候选位置集中的每个候选位置点的状态概率、第i-1个电参数测量值的候选位置集到第i个电参数测量值的候选位置集的状态转移概率矩阵、以及第i个电参数测量值的候选位置集中的每个候选位置点的发射概率，来确定第i个电参数测量值的候选位置集中的每个候选位置点的状态概率；

基于第N个电参数测量值的候选位置点集中具有最高状态概率的候选位置点，确定所述待检测轨迹匹配的特定部分轨迹，

其中，i大于等于2，且小于等于N，N为所述待检测轨迹中的电参数测量值的总数量。

5.根据权利要求1所述的开关位置检测装置，其中，基于所述特定部分轨迹确定开关位置包括：

提取所述特定部分轨迹中在当前采样点获取的电参数测量值的对应轨迹点，

将该对应轨迹点所对应的开关位置区域所属的开关位置确定为当前开关位置。

6.根据权利要求1所述的开关位置检测装置，其中，所述控制器还被配置为：

将弹片位于所述至少两个开关位置区域以及间隔区域上的各位置点时电参数测量值的理论值作为该位置点的基准电参数测量值，以生成基准曲线轨迹。

7.根据权利要求1或2所述的开关位置检测装置，其中，所述控制器还被配置为：

基于所述电参数测量值序列，更新所述基准曲线轨迹。