[发明专利]一种抛弃式光纤温深仪测量系统在审
| 申请号： | 202010210404.9 | 申请日： | 2020-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN111323061A | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 吕国涛;徐海东;龙永进;赵梅;胡长青;孙东飞;杨雪峰;张强;朱岁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院声学研究所东海研究站 |
| 主分类号： | G01D5/353 | 分类号： | G01D5/353;G01K11/32;G01K13/02;G01L11/02;G01C13/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201815 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 抛弃 光纤 温深仪 测量 系统 | ||
1.一种抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，包括：一个或多个抛弃式光纤温深探头和光信息解调与控制系统，其中，
所述抛弃式光纤温深探头用于反射所述光信息解调与控制系统输出的光信号，并将反射光信号通过光纤发送给所述光信息解调与控制系统；
所述光信息解调与控制系统输出光信号，并检测每个所述抛弃式光纤温深探头的反射光信号的波长，并基于所述波长解算相应所述抛弃式光纤温深探头所处位置的物理量。
2.根据权利要求1所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述物理量包括温度、压力、位移和/或应变。
3.根据权利要求1所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述抛弃式光纤温深探头包括温度传感器和/或压力传感器。
4.根据权利要求1所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述光信息解调与控制系统包括光源、反射光波长检测单元和中央控制单元，其中，
所述光源用于发出光信号；
所述反射光波长检测单元用于检测所述抛弃式光纤温深探头的反射光信号；
所述中央控制单元根据所述反射光波长检测单元的检测结果确定反射光信号的波长。
5.根据权利要求4所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述反射光波长检测单元包括扫描电压发生器、可调光纤F-P滤波器、光强探测器和光电转换模块，其中，
所述扫描电压发生器在所述中央控制单元的控制下产生扫描电压；
所述可调光纤F-P滤波器的中心波长随所述扫描电压变化；
所述光强探测器检测所述可调光纤F-P滤波器输出的光信号强度；
所述光电转换模块将所述光信号强度转换成电压信号；
所述中央控制单元确定所述反射光信号的波长：搜索所述光强探测器输出的电压信号峰值，确定所述电压信号峰值所对应的所述扫描电压发生器的扫描电压，该扫描电压对应的所述可调光纤F-P滤波器的中心波长即为所述反射光信号的波长。
6.根据权利要求5所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述扫描电压发生器在所述中央控制单元的控制下产生由低到高的扫描电压。
7.根据权利要求4所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述光源发出的光信号波长范围是1525nm-1565nm。
8.根据权利要求4所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述光信息解调与控制系统还包括数据接口，所述中央控制单元将所述抛弃式光纤温深探头的物理量数据通过所述数据接口输出。
9.根据权利要求1所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述光纤采用在裸光纤上加涂覆层。
10.根据权利要求9所述的抛弃式光纤温深仪测量系统，其特征在于，所述涂覆层为用紫外光固化的一层弹性涂料，包括丙烯酸酯、硅橡胶和尼龙材料。
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