[发明专利]掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构及方法在审
申请号: | 202010203142.3 | 申请日: | 2020-03-20 |
公开(公告)号: | CN111370978A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 王雷;徐相国;侯建华;李艳 | 申请(专利权)人: | 无锡市德科立光电子技术有限公司 |
主分类号: | H01S3/00 | 分类号: | H01S3/00;H01S3/067 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;屠志力 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 放大器 增益 斜度 实时 检测 结构 方法 | ||
1.一种掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,包括:两个滤波器、两个光功率监测器件;
所述两个滤波器用于分别提取EDFA主体的输出中的带外短波自发辐射噪声和带外长波自发辐射噪声;所述两个光功率监测器件用于分别检测出所述带外短波自发辐射噪声功率和所述带外长波自发辐射噪声功率。
2.如权利要求1所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,
所述两个滤波器包括第一滤波器和第二滤波器,所述两个光功率监测器件包括第一光功率监测器件和第二光功率监测器件;
第一滤波器的公共端用于接入EDFA主体的输出或EDFA主体的输出之一部分;第一滤波器的反射端接第二滤波器的公共端;第一滤波器的透射端接第一光功率监测器件,第二滤波器的透射端接第二光功率监测器件;
所述两个滤波器,其中一个滤波器的透射波长为EDFA主体的信号波长的带外短波长,另一个滤波器的透射波长为EDFA主体的信号波长的带外长波长。
3.如权利要求2所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,
对于透射波长为EDFA主体的信号波长的带外短波长的滤波器,其透射中心距离EDFA主体的信号波长的最短波长4nm~5nm以上;
对于透射波长为EDFA主体的信号波长的带外长波长的滤波器,其透射中心距离EDFA主体的信号波长的最长波长4nm~5nm以上;
两个滤波器的透射波长带宽各取1nm~3nm。
4.如权利要求2或3所述的所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,
第一滤波器的公共端接EDFA主体的输出端;第二滤波器的反射端作为掺铒光纤放大器的新输出端;
第一滤波器、第二滤波器均为带通滤波器,除了各自的透射波长,其它波长为各自的反射波长。
5.如权利要求2或3所述的所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,还包括检测分光器;
检测分光器的公共端接EDFA主体的输出端,检测分光器的主输出端作为掺铒光纤放大器的新输出端;检测分光器的辅输出端接第一滤波器的公共端;
第一滤波器、第二滤波器均为带通滤波器,除了各自的透射波长,其它波长为各自的反射波长。
6.如权利要求5所述的所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,
第二滤波器设有反射端,其反射端接绕小圈的光纤,或者接20dB以上的衰减损耗;或者第二滤波器为1*1器件,即只有公共端及透射端。
7.如权利要求2或3所述的所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,还包括第三滤波器;
第三滤波器的公共端接EDFA主体的输出端,第三滤波器的透射端作为掺铒光纤放大器的新输出端;第三滤波器的反射端接第一滤波器的公共端;
第三滤波器的透射波长为EDFA主体的带内信号波长,其它波长为其反射波长;第一滤波器、第二滤波器均为带通滤波器,除了各自的透射波长,其它波长为各自的反射波长。
8.如权利要求7所述的所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,
第二滤波器设有反射端,其反射端接绕小圈的光纤,或者接20dB以上的衰减损耗;或者第二滤波器为1*1器件,即只有公共端及透射端。
9.如权利要求2或3所述的所述的掺铒光纤放大器增益斜度实时检测的光路结构,其特征在于,还包括检测分光器;
所述检测分光器的公共端接EDFA主体中输出分光器的辅输出端;检测分光器的主输出端接EDFA主体中的输出端光功率监测器件,检测分光器的辅输出端接第一滤波器的公共端;
第一滤波器、第二滤波器均为带通滤波器,除了各自的透射波长,其它波长为各自的反射波长。
10.一种掺铒光纤放大器增益斜度实时检测方法,其特征在于,包括:
带外短波自发辐射噪声功率和带外长波自发辐射噪声功率的差值定义为带外ASE功率差;
拟合得到带外ASE功率差和增益斜度的校准关系,通过实时检测得到的EDFA主体的带外短波自发辐射噪声功率和带外长波自发辐射噪声功率,计算得到实时的带外ASE功率差,根据所述拟合得到的带外ASE功率差和增益斜度的校准关系,得到实时的增益斜度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡市德科立光电子技术有限公司,未经无锡市德科立光电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010203142.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。