[发明专利]产品检测方法、装置、计算机装置及存储介质

说明书

本发明提供一种产品检测方法、产品检测装置、计算机装置及计算机存储介质，所述方法包括：获取待检测产品的检测数据并基于所述检测数据生成产品检测数据分布图，其中，所述检测数据包括产品的外观尺寸；判断所述检测数据分布图是否与数据库中的标准检测数据分布图的特征信息相一致；若一致，则生成所述待检测产品检测数据合格的提示消息；若不一致，则生成所述待检测产品检测数据异常的提示消息。通过所述方法可以使产品检测以更加高效、智能的方式进行。

技术领域

本发明涉及产品检测领域，具体涉及一种产品检测方法、产品检测装置、计算机装置及计算机存储介质。

背景技术

在电子产品的制造过程中，需要对产品外壳的平整度进行分析，产品外壳的平整度的好坏直接影响到产品内部电子元件的使用寿命，且产品外壳的平整度越高，用户的个人体验越好。现有的关于产品外壳平整度的检测方法效率低、不智能。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提出一种产品检测方法、产品检测装置、计算机装置和计算机存储介质，产品检测以更加高效、智能的方式进行。

本申请的第一方面提供应用于产品检测装置，所述方法包括：

获取待检测产品的检测数据并基于所述检测数据生成产品检测数据分布图，其中，所述检测数据包括产品的外观尺寸；

判断所述检测数据分布图是否与数据库中的标准检测数据分布图的特征信息相一致；

若一致，则生成所述待检测产品检测数据合格的提示消息；

若不一致，则生成所述待检测产品检测数据异常的提示消息。

优选地，所述方法还包括：

将所述产品检测数据分布图与所述数据库中的异常检测数据分布图的特征信息相比对，根据比对结果查找并输出与所述异常产品的特征信息对应的异常原因。

优选地，所述产品检测装置包括至少一传感器，所述获取待检测产品的检测数据并基于所述检测数据生成产品检测数据分布图的步骤包括：

获取所述传感器发送的产品的检测数据，其中所述检测数据包括测量点的位置信息及测量点对应的产品外观尺寸数据；

根据待检测产品的检测位置信息从所述检测数据中查找与所述检测位置信息对应的测量点的产品外观尺寸数据；

按照预设规则对所述检测位置信息及所述检测位置信息对应的产品外观尺寸数据进行归类，将同一类数据按照第一预设符号在产品检测数据分布图中进行显示。

优选地，所述预设规则包括：

基于平均值的分类算法、基于贝叶斯公式的分类算法、基于向量基的分类算法、基于逻辑回归的分类算法中的任意一种或多种。

优选地，所述方法还包括：

对所述传感器发送的产品检测数据进行数据清洗，去除异常的产品检测数据；

其中，所述数据清洗包括：将获取到的产品外观尺寸数据与第一阈值相比较，若获取到的外观尺寸数据超出所述第一阈值范围，则所述数据为异常数据。

优选地，所述判断所述检测数据分布图是否与数据库中的标准检测数据分布图的特征信息相一致的方法包括：

比较所述检测数据分布图对应的第一阈值与所述标准检测数据分布图对应的第一阈值；

若所述检测数据分布图对应的第一阈值与所述标准检测数据分布图对应的第一阈值之差的绝对值小于第一预设公差，则判定所述检测数据分布图与数据库中的标准检测数据分布图的特征信息相一致。

优选地，所述判断所述检测数据分布图是否与数据库中的标准检测数据分布图的特征信息相一致的方法还包括：