[发明专利]一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器及其制作方法

权利要求书

1.一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：包括测量室和反符合测量室；所述测量室和反符合测量室之间通过挡板隔开；所述挡板能够阻挡α射线和β射线而使宇宙射线和环境γ射线通过。

2.如权利要求1所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述测量室和反符合测量室材质相同，结构相同，其壳体材料均为铝。

3.如权利要求2所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述测量室最外层为入射窗，该入射窗为钛箔。

4.如权利要求3所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述钛箔的质量为4mg/cm²～13mg/cm²。

5.如权利要求4所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述测量室和反符合测量室内均设置有阳极丝固定柱，材质为聚四氟乙烯。

6.如权利要求1-5任一所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述挡板的厚度不小于β粒子在该挡板材料中的射程。

7.如权利要求6所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：β粒子的射程为β射线能谱中电子最大能量所对应的射程，根据射程与能量之间的经验公式计算。

8.如权利要求7所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述挡板材料为铝或铜；所述射程与能量之间的经验公式为：

当0.15MeVE_βmax0.8MeV时，

当0.8MeVE_βmax3MeV时，

其中，E_βmax为电子最大能量，单位为MeV，R_β为β粒子的射程，单位为g/cm²。

9.如权利要求1-8所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器的制作方法，其特征在于，包括：

对各个部件进行第一次清洁；

将所述部件组装固定；

对组装好的探测器进行再清洁；

对探测器进行气体置换和钝化；

加压封口并进行性能测试；

其中，所述第一次清洁为使用清洁试剂进行油污的去除，在40～60℃的温水下浸泡10～15分钟，之后反复使用蒸馏水清洗3～5次，烘干；

所述对探测器进行气体置换和钝化为：将探测器底部密封放入恒温恒湿箱中加热，温度保持在50～70℃，在探测器的进气口通入P10气体，通气10～15小时，以便置换出探测器腔体内的空气。

10.如权利要求9所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器的制作方法，其特征在于，

将所述部件组装固定时，将阳极丝固定柱用密封胶胶结在探测器内部，等待20～24小时，胶完全固化；之后将阳极丝固定在阳极丝固定柱上，并用密封胶密封阳极丝与高压引出孔；之后将入射窗用密封胶胶结在探测器壳体上，等待20～24小时，胶完全固化；

所述加压封口时，先将出气口密封，待进气口气压达到96kPa时密封进气口。