[发明专利]一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法

权利要求书

1.一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，包括：

通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；

对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；

通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；

再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；

对一次可编程存储器芯片进行动态老炼，诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效；

进行全片读取校验，剔除发生错误的芯片；

所述一次可编程存储器芯片包括：用户存储区，用于用户存储信息；所述用户存储区包括字线、位线、存储单元和电源线、地线；

测试阵列，用于通过编程、读出操作进行测试；所述测试阵列包括冗余行和冗余列；其中，所述冗余行包括两行存储单元及冗余行区域内的字线、位线和电源线、地线；所述冗余列包括两列存储单元及冗余列区域内的字线、位线和电源线、地线；

编程及读出电路，隔着所述用户存储区与所述冗余行相对；

字线驱动，隔着所述用户存储区与所述冗余列相对；

对一次可编程存储器芯片进行动态老炼包括：对所述用户存储区进行周期性读取，和对所述测试阵列进行周期性读取，以使读出通路有“0→1”或“1→0”的变化，即老炼过程覆盖读出通路。

2.如权利要求1所述的对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验包括：

从所述冗余行的列的角度看，冗余行内每列有2个存储单元，至少对其中1个进行编程，但从冗余行整体来看，不能对冗余行内存储单元全部编程；若校验失败，则该芯片剔除。

3.如权利要求1所述的对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验包括：

从所述冗余列的行的角度看，冗余列内每行有2个存储单元，至少对其中1个进行编程，但从冗余列整体来看，不能对冗余列内存储单元全部编程；若校验失败，则该芯片剔除。

4.如权利要求1所述的对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，进行全片读取校验包括：

对测试阵列的数据和用户存储区的数据进行读取校验，若内容发生错误，则该芯片剔除。

5.如权利要求1所述的对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，所述空片检查包括检查所述用户存储区中数据有无发生变化，若发生变化则剔除该芯片。