[发明专利]一种打印头的加热点检测电路、方法及打印机

说明书

本发明提供一种打印头的加热点检测电路、方法及打印机，检测回路包括：分压回路、开关回路及加热点检测回路；开关回路用于根据控制器的脉冲信号接通分压回路与加热点检测回路；分压回路用于分担基准电压在加热点检测回路的加热点上的压降，并将加热点的电压反馈至控制器并与预设电压进行比较，生成比较结果；加热点检测回路用于接收控制器根据比较结果发送的选通脉冲，并根据选通脉冲决定对下一加热点的检测开启周期，当根据比较结果判断为正常加热点时，采用第一开启周期对下一加热点进行检测，反之采用第二开启周期，第一开启周期比第二开启周期短。基于本发明，解决打印头上单个加热点的检测耗时久，遍检所有坏点周期长的问题。

技术领域

本发明涉及检测电路领域，特别涉及一种打印头的加热点检测电路、方法及打印机。

背景技术

热敏打印头存在加热点烧坏的可能，加热点烧坏会导致打印内容缺失，打印出来的样张存在白线等。如果坏点数较多，则打印效果将不理想甚至无法辨别打印内容，因此需要在打印前侦测热敏打印头上有的坏点数量。

目前的检测方案采用分压电路结构来侦测，逐点打开加热点，控制系统记录每个点的实际电压值判断当前打开的加热点是否属于坏点，每个加热点的阻值检测都需要一个侦测周期，总的时间t＝热敏打印头的点数N*T，T为单个加热点的测量周期。

然而由于热敏打印头上存在较大电容值，因此每个加热点的开启和关闭都存在RC充放电过程，而侦测加热点的阻值需要在分压稳定之后才进行检测，因此会导致单个加热点的测量周期大大延长，使得整个打印头的坏点检测花费大量的时间。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种打印头的加热点检测电路、方法及打印机，旨在解决打印头上单个加热点的检测耗时久，遍检所有坏点周期长的问题。

本发明第一实施例提供了一种打印头的加热点检测电路，包括：

分压回路、开关回路及加热点检测回路；

其中，所述开关回路用于根据控制器的脉冲信号接通所述分压回路与所述加热点检测回路；

所述分压回路用于分担基准电压在所述加热点检测回路的加热点上的压降，并将所述加热点的电压反馈至所述控制器并与预设电压进行比较，生成比较结果；

所述加热点检测回路用于接收所述控制器根据所述比较结果发送的选通脉冲，并根据所述选通脉冲决定对下一所述加热点的检测开启周期，其中，当根据所述比较结果判断为正常加热点时，采用第一开启周期对下一所述加热点进行检测，当根据所述比较结果判断为异常加热点时，采用第二开启周期对下一所述加热点进行检测，所述第一开启周期比所述第二开启周期短。

优选地，所述分压回路包括：第一电阻；

其中，所述第一电阻的第一端与基准电压电气连接，所述第一电阻的第二端与所述开关回路的输入端电气连接，所述第一电阻的第二端与所述控制器的采样端电气连接。

优选地，所述开关回路包括：第一MOSFET管；

其中，所述第一MOSFET管的S极与所述第一电阻的第二端电气连接，所述第一MOSFET管的G极与所述控制器的输出端电气连接，所述第一MOSFET管的D极与所述加热点检测回路的输入端电气连接。

优选地，所述加热点检测回路包括：电容、打印头驱动器及多个加热点单元；

其中，所述第一MOSFET管的D极与所述电容的第一端电气连接，所述电容的第二端接地，每一所述加热点单元的第一端与所述电容的第一端电气连接，每一所述加热点单元的第二端接地，所述打印头驱动器的输入端与所述控制器的输出端电气连接，所述打印头驱动器的输出端与每一所述加热点单元的控制端电气连接。

优选地，所述第一开启周期为所述电容的电压变化在所述预设电压范围内的时间值，所述第二开启周期为2倍于所述第一电阻与电容组成的时间常数。