[发明专利]一种厚度测量方法在审
| 申请号: | 202010190761.3 | 申请日: | 2020-03-18 |
| 公开(公告)号: | CN111426293A | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
| 发明(设计)人: | 蔡金辉 | 申请(专利权)人: | 漳州捷龙自动化技术有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;G01B21/04 |
| 代理公司: | 泉州市潭思专利代理事务所(普通合伙) 35221 | 代理人: | 林丽英 |
| 地址: | 363000 福建省漳州市芗城区金峰开发区前山*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 厚度 测量方法 | ||
本发明公开一种厚度测量方法,具体方法如下:步骤一:定义标定板的标定厚度为d0;将标定板伸入到第一探头和第二探头之间,测定出标定板的厚度d1。步骤二:算出d1与d0的差值P1=d1‑d0。步骤三:通过第一探头检测到第1块板的第一表面的距离A11,通过第二探头检测到第1块板的第二表面的距离A12,算出第1块板的厚度D1,并加上差值P1得到第1块板的真厚度如下Z1=D1+d1‑d0。之后重复步骤一至步骤三,直至将所有待测板测量完毕。与现有技术相比,本发明可对人造板进行连续的精准测量,可以克服震动和温度变化等因素造成的测量误差。
技术领域
本发明涉及产品测量领域,具体涉及的是一种厚度测量方法。
背景技术
产品的尺寸测量,如人造板等板件的厚度测量是工业生产中常见的作业工序。现有的厚度等测量手段包括物理接触测量、超声波测量、 X射线测量和激光测量等,其中激光测量因具有一定的效率优势而越来越广泛普及。激光测厚仪的结构已为公知,其一般是由两个激光传感器上下对射的方式组成的,上下的两个激光传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更精准,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X 射线测厚仪没有辐射污染。但是无论是激光测厚仪还是其他尺寸测量装置的两个探头很容易因为震动和温度变化等产生偏移,造成最初设置的基准值发生变化,产生零点漂移现象,进而造成测量误差,很难实现高精度测量,尤其是连续的高精度测量。
有鉴于此,本申请人针对上述问题进行深入研究,遂有本案产生。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种厚度测量方法,对产品尺寸进行精准测量,尤其可对连续输送的产品进行精准测量,提高测量精度和测量效率。
为了达成上述目的,本发明的解决方案是:
一种厚度测量方法,其中,包括如下步骤:
步骤一:定义标定板的标定厚度为d0;将标定板伸入到第一探头和第二探头之间,测定出标定板的厚度d1;
步骤二:算出d1与d0的差值P1=d1-d0;
步骤三:通过第一探头检测到第1块板的第一表面的距离A11,通过第二探头检测到第1块板的第二表面的距离A12,算出第1块板的厚度D1,并加上差值P1得到第1块板的真厚度Z1=D1+d1-d0;
步骤四:将标定板伸入到第一探头和第二探头之间,测定出标定板的厚度d2;
步骤五:算出d2与d0的差值P2=d2-d0;
步骤六:通过第一探头检测到第2块板的第一表面的距离A21,通过第二探头检测到第2块板的第二表面的距离A22,算出第2块板的厚度D2,并加上差值P2得到第2块板的真厚度Z2=D2+d2-d0;
......
步骤n:将标定板伸入到第一探头和第二探头之间,测定出标定板的厚度dn;
步骤n+1:算出dn与d0的差值Pn=dn-d0:
步骤n+2:通过第一探头检测到第(n+2)/3块板的第一表面的距离An1,通过第二探头检测到第(n+2)/3块板的第二表面的距离An2,算出第(n+2)/3块板的厚度Dn,并加上差值Pn得到第(n+2)/3块板的真厚度Zn=Dn+dn-d0。
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