[发明专利]一种前瞻性相位校正平面回波成像方法

权利要求书

1.一种前瞻性相位校正平面回波成像方法，其特征在于包括以下步骤：

S100、参考数据采集，包括以下步骤：

S110、施加激发脉冲，同时在相位编码方向施加层选梯度，层选梯度的强度G_s计算公式为

其中BW_rf为激发脉冲的带宽，γ为磁旋比，thickness为激发的层厚，

S120、反向施加层选回聚梯度，

S130、施加相位编码预散相梯度和相位编码梯度，

S140、在施加相位编码预散相梯度后，立即打开采样窗口，采集磁共振信号直至平面回波成像序列最后一个频率编码梯度的中间，

S150、采集到的磁共振信号共N个点，为s_1，s₂……s_n；

S200、计算相邻两点相位差，计算公式为

其中conj()是复数共轭函数，phase()是取相位函数；

S300、计算相位编码梯度强度，相位编码梯度强度G_n的计算公式为

其中γ为磁旋比，d为激发层面与磁体中心的距离，Δt为采样时间间隔；

S400、计算相位编码梯度面积，包括以下步骤：

S410、计算第m步相位编码的面积，计算公式为

积分的起点m_start为前一个频率编码梯度的中间，积分的起点的终点m_end为施加完第m步相位编码后的频率编码梯度的中间，

S420、计算相位编码梯度的平均面积A_{pe_mean}，计算公式为

其中M表示总共有M个相位编码步；

S500、计算相位编码梯度偏差比列，计算公式为

其中ε_m表示第m步相位编码产生的误差；

S600、补偿相位编码梯度偏差：在平面回波成像基础上，相位编码梯度增加校正梯度，校正梯度的面积分别为A₁，A₂……A_m；

S700、采集成像数据。

2.根据权利要求1所述的成像方法，其特征在于：步骤S110中，激发脉冲翻转角度≤90°。

3.根据权利要求1所述的成像方法，其特征在于：步骤S110中，thickness＜1mm。

4.根据权利要求1所述的成像方法，其特征在于：步骤S110中，激发脉冲的中心频率的计算公式为：

f＝γ·G_s·d

其中γ为磁旋比，d为激发层面与磁体中心的距离。

5.根据权利要求4所述的成像方法，其特征在于：d＝50mm。

6.根据权利要求1所述的成像方法，其特征在于：步骤S120中，层选回聚梯度的面积A_sr计算公式为

A_sr＝-A_s·r_refocus

其中A_s为层选梯度面积，r_refocus为激发脉冲的回聚比列。

7.根据权利要求1所述的成像方法，其特征在于：步骤S600中，校正梯度的面积计算公式为

A_m＝ε_m·A_pe

A_pe为理想的相位编码梯度面积。