[发明专利]一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法有效

专利信息
申请号: 202010184254.9 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN111367259B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 乐李菊;姚惠霞;赵斌 申请(专利权)人: 四川九洲电器集团有限责任公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 夏琴
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 低成本 数字信号 处理 模块 自动 测试 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法,所述自动测试装置包括:依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器;所述接口适配器,用于连接数字信号处理模块,将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置;所述接口电路,用于实现接口间驱动隔离;所述CPLD处理器,用于接收数字信号处理模块的输出数据,并按照约定的协议进行处理后,产生数字信号处理模块的输入数据。本发明的自动测试装置采用常用元器件实现,在不需要任何测试仪器和射频模块的情况下,与自动测试软件结合可以用于实现对数字信号处理模块的覆盖测试和压力测试,缩短了测试时间并及时暴露数字信号处理模块中的问题。

技术领域

本发明涉及数字信号处理模块的测试技术领域,尤其是一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法。

背景技术

目前,在敌我识别、雷达探测、通信对抗等领域,产品大多由数字信号处理模块和射频模块组成,数字信号处理模块用于控制射频模块的输出频率、通道开关以及读取射频模块的温度数据等,其质量的优劣对整个产品至关重要,因此对数字信号处理模块进行充分性、覆盖性、压力性测试也显得尤为重要。

在设计、生产过程中,对数字信号处理模块的测试主要采用与射频模块相结合,使用手动方式进行射频模块输出功率和频率等测试,以验证数字信号处理模块的正确性,不仅测试时间较长,而且也因为手动测试验证不充分,不能完全发现设计中存在的问题。同时可能因为射频模块产出时间晚于数字信号处理模块,使得数字信号处理模块一直处于待测状态,不能及时开展对数字信号处理模块的测试。

发明内容

本发明的目的为:提供一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法,在不使用任何测试仪器和射频模块的情况下,选用常用元器件搭建自动测试装置,解决数字信号处理模块测试不充分、测试不及时、测试时间长的问题。

本发明采用的一种低成本数字信号处理模块自动测试装置,包括:依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器;

所述接口适配器,用于连接数字信号处理模块,将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置;

所述接口电路,用于实现接口间驱动隔离;

所述CPLD处理器,用于接收数字信号处理模块的输出数据,并按照约定的协议进行处理后,产生数字信号处理模块的输入数据。

本发明还提供一种低成本数字信号处理模块自动测试方法,所述自动测试方法为:采用安装有自动测试软件的终端设备,以及所述的自动测试装置连接至数字信号处理模块进行对数字信号处理模块的自动测试。

进一步地,所述对数字信号处理模块的自动测试包括:

(1)进行LVDS串口覆盖测试和压力测试;

(2)进行SPI接口覆盖测试和压力测试;

(3)进行离散接口覆盖测试和压力测试。

进一步地,所述进行LVDS串口覆盖测试的步骤如下:

(1.1)在终端设备中的自动测试软件中设置LVDS覆盖测试;

(1.2)自动测试软件控制数字信号处理模块从LVDS_OUT_P和LVDS_OUT_N发送端口发送频率控制信息;

(1.3)该频率控制信息经自动测试装置的接口适配器后,从LVDS_IN_P和LVDS_IN_N接收端口送入数字信号处理模块;

(1.4)数字信号处理模块对接收的数据进行处理,并将处理结果反馈至终端设备;

(1.5)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果,并将该处理结果与预期值进行比对,根据比对结果判定数字信号处理模块中LVDS串口数据处理是否正确。

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