[发明专利]一种用于X光机高压发生器的检修方法及系统

权利要求书

1.一种用于X光机高压发生器的检修方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、接收第一客户端提供的远程权限，连接所述第一客户端；

S2、向所述第一客户端发送指令，所述第一客户端根据指令设置需要采集的高压发生器的测试点、采集的频率和采集通道；

S3、向所述第一客户端发送指令，所述第一客户端根据指令控制所述高压发生器进行曝光并控制MCU采集所述测试点的信号；

S4、向所述第一客户端发送指令，所述第一客户端根据指令接收所述MCU采集的采样数据后，将所述采样数据显示成波形；

S5、接收所述第一客户端发送的波形并通过交互界面显示，根据所述波形判断当前测试点的异常情况，判定故障原因。

2.根据权利要求1所述的检修方法，其特征在于，所述步骤S1还包括：

通过即时通讯软件QQ或远程连接软件TeamViewer远程连接所述第一客户端的电脑。

3.根据权利要求1所述的检修方法，其特征在于，所述步骤S3还包括：

所述第一客户端向所述MCU发送指令，所述指令包括开始采样指令、停止采样指令、暂停采样指令、配置采集通道指令及采样率配置指令。

4.根据权利要求1所述的检修方法，其特征在于，所述步骤S4还包括：

所述第一客户端接收所述MCU通过ADC采集并通过CAN通讯传输的所述采样数据；

所述第一客户端将所述采样数据以横轴为时间，纵轴为值的方式显示成波形。

5.根据权利要求1所述的检修方法，其特征在于，所述步骤S5还包括：

确定当前测试点无法判断故障原因，向所述第一客户端发送指令，所述第一客户端根据指令设置其他测试点、采集的频率和采集通道，返回步骤S3；

确定当前测试点的异常情况，判定故障原因。

6.一种用于X光机高压发生器的检修系统，其特征在于，包括：

连接模块，用于连接第一客户端和第二客户端；

采集模块，包括MCU，用于检测高压发生器的各个测试点；

控制模块，用于设置需要采集的高压发生器的测试点、采集的频率和采集通道，并控制所述高压发生器进行曝光；

显示模块，用于接收所述采集模块采集的采样数据，并将所述采样数据显示成波形；

判断模块，用于根据交互界面实时显示的波形判断当前测试点的异常情况，判定故障原因。

7.根据权利要求6所述的检修系统，其特征在于，所述MCU用于通过ADC采集所述高压发生器的测试点的信号，一次工作同时采样两路信号；所述MCU包括3个ADC,其中ADC1与ADC2可以使用交替触发模式进行采集。

8.根据权利要求6所述的检修系统，其特征在于，所述测试点包括+KV和-KV反馈、+mA与-mA反馈、旋转阳极运行电压采样反馈、灯丝驱动输出反馈、各路辅助电源电压反馈、DCBUS直流母线电压反馈及外同步连接信号反馈。

9.根据权利要求6所述的检修系统，其特征在于，所述MCU用于暂存所述采样数据，收到所述控制模块的控制指令后通过CAN通讯传输所述采样数据给所述显示模块。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上储存有程序指令，所述程序指令被处理器执行时实施如权利要求1至5中任一项所述的方法。