[发明专利]一种基于深度神经网络的布匹疵点检测方法和系统有效
| 申请号: | 202010179203.7 | 申请日: | 2020-03-14 |
| 公开(公告)号: | CN111462051B | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
| 发明(设计)人: | 孙志刚;刘文龙;张凯;肖力;王卓 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06N3/08;G06N3/04 |
| 代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 深度 神经网络 布匹 疵点 检测 方法 系统 | ||
本发明公开了一种基于深度神经网络的布匹疵点检测方法和系统,属于模式识别技术领域。包括:使用疵点布匹图像训练集训练深度神经网络模型,标签为疵点类型和真实框位置信息,深度神经网络模型由主干网络和检测网络构成,主干网络用于从疵点布匹图像中提取三个尺度不同特征图;检测网络包括:三个结构相同的检测子网络和检测结果融合模块,每个检测子网络用于从特征图中检测出疵点类型和预测框位置信息,由三个密集连接块组成,密集块之间的特征通道连接加强特征传递,检测结果融合模块用于对预测结果非极大值抑制,得到最终预测框和疵点类型,将待测布匹输入训练好的深度神经网络模型,得到检测结果,从而更快更准确检测布匹中疵点的类型和位置。
技术领域
本发明属于机器视觉与模式识别技术领域,更具体地,涉及一种基于深度神经网络的布匹疵点检测方法和系统。
背景技术
我国布匹产量大、厂家众多,但多数厂家的产品属于中低端产品,其中80%的厂家生产中低档纺织品,只生产低质量低价格纺织品的企业有4%,而高质量纺织品的生产厂家只有10%左右。要想提高布匹的质量,就必须对布匹上的疵点进行检测。
由于布匹疵点形状各异,特征比较复杂,所以传统的布匹检测方法精度一直不高,并且传统的布匹疵点检测方法受外界环境影响比较大,稳定性不好,不具备通用性。专利CN108520114A“一种纺织布疵点检测模型及其训练方法和应用”,公开了基于深度学习框架YOL0v2构建纺织布疵点检测模型,它通过多层卷积操作对图像特征进行提取和融合,并且使用了固定框、维度聚类、直接坐标预测、多尺度训练、批归一化进行网络优化。西安工程大学的刘娆在论文“卷积神经网络在纺织品缺陷检测中的应用研究”中提出YOLOV3缺陷检测模型,基础网络采用Darknet-53,分类器使用多个logistic分类器代替使用Softmax对每个框进行分类,同时增加了多尺度预测。
但是,YOLOV2对于小目标的检测能力比较弱,而布匹中具有不同大小的疵点,导致对于一些小的疵点YOLOV2检测精度不理想,准确率较低。YOLOV3检测网络过于复杂,参数较多,导致检测实时性差的技术问题。
发明内容
针对现有技术纺织布疵点检测方法存在准确率低、实时性差和不具有通用性的技术问题,本发明提供了一种基于深度神经网络的布匹疵点检测方法,其目的在于通过本发明设计的深度神经网络模型,更快更准确检测布匹中疵点的类型和位置。
为实现上述目的,按照本发明的第一方面,提供了一种基于深度神经网络的布匹疵点检测方法,该方法包括以下步骤:
S1.使用疵点布匹图像训练集训练深度神经网络模型,训练样本的标签为疵点类型和真实框位置信息,所述深度神经网络模型由主干网络和检测网络构成,所述主干网络用于从疵点布匹图像中提取三个尺度不同的特征图;所述检测网络包括:三个结构相同的检测子网络和一个检测结果融合模块,第i个检测子网络用于从第i个尺度的特征图中检测出疵点类型和预测框的位置信息,每个检测子网络由三个密集连接块组成,通过密集块之间的特征通道连接加强特征传递,所述检测结果融合模块用于根据预测框和真实框的交并比和中心距,对三个预测结果进行非极大值抑制,得到最终的预测框和对应疵点类型,i=1,2,3;
S2.将待测布匹输入训练好的深度神经网络模型,得到布匹疵点检测结果。
优选地,每个密集连接块由三路输出组成,第一路为1个第一Convolutional结构,第二路为2个第一Convolutional结构级联,第三路为3个第一Convolutional结构级联,在经过三路Convolutional结构之前,使用1个第二Convolutional结构进行特征通道压缩,形成Bottleneck结构。
优选地,Convolutional结构由卷积层、批归一化层、激活层组成,将卷积层与批归一化层合并。
优选地,非极大值抑制的衡量指标如下:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010179203.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





