[发明专利]一种方便对电极箔展平的检测装置

说明书

本发明涉及方便对电极箔展平的检测装置领域，具体的说是一种方便对电极箔展平的检测装置，包括框架、距离调节结构、导向结构、检测结构、标记结构、展平结构和驱动结构；框架上设有两个对称的距离调节结构，距离调节结构和框架上均设有转动连接的用于输送电极箔的导向结构，进而便于通过距离调节结构调节框架上的导向结构与距离调节结构上的导向结构之间的距离，便于适用于不同厚度的电极箔，通过驱动结构驱动框架的内部的导向结构转动，进而便于快速的控制电极箔在框架上移动；框架的中线处设有用于检测电极箔平整度的检测结构，进而便于通过千分表快速的对电极箔的表面的平整度进行检测，配合导向结构的使用，使电极箔的检测的效率更高。

技术领域

本发明涉及方便对电极箔展平的检测装置领域，具体说是一种方便对电极箔展平的检测装置。

背景技术

电极箔是专门用来制作铝电解电容器正负极的材料；铝电解电容器是由经过腐蚀并覆盖氧化膜的阳极铝箔、经过腐蚀的阴极铝箔和电解纸卷绕后，再浸渍工作电解液，然后密封艾铝壳中而制作成的，在使用电极箔做电容器正负极时，首先需要对电极箔的平整度进行检测，对平整度较差的需要进行展平。

然而，当使用千分表对电极箔的表面的平整度进行检测时，需要逐个小面积的检测电极箔，检测的效率低，且不便于电极箔在操作台上快速的移动，且不便于对电极箔的平整度存在问题的电极箔进行标识，且检测组件和展平组件分开设置，进而影响了电极箔的检测和展平的效率及其质量。

发明内容

针对现有技术中的问题，本发明提供了一种方便对电极箔展平的检测装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种方便对电极箔展平的检测装置，包括框架、距离调节结构、导向结构、检测结构、标记结构、展平结构和驱动结构；所述框架上设有两个对称的所述距离调节结构，所述距离调节结构和所述框架上均设有转动连接的用于输送电极箔的所述导向结构；所述框架的内部设有所述驱动结构，所述驱动结构连接于所述框架的内部的所述导向结构；所述框架的内部设有用于对电极箔上不平整区域进行标记的所述标记结构，且所述框架上设有与所述标记结构对应的用于检测电极箔的平整度的所述检测结构；所述框架的其中一端设有用于对电极箔进行展平的所述展平结构。

具体的，所述驱动结构包括摇杆、皮带和三个带轮，所述摇杆贯穿连接于所述框架，所述摇杆与所述框架之间转动连接，三个所述带轮分别固定于所述摇杆和所述框架的内部的两个所述导向结构，所述皮带缠绕于所述带轮。

具体的，所述距离调节结构包括第一驱动杆、第一滑套和第一定位杆，所述框架上对称设有两个所述第一定位杆，所述第一滑套与所述第一定位杆之间滑动连接，所述第一滑套上设有转动连接的所述导向结构，所述第一驱动杆贯穿连接于所述第一滑套和所述第一定位杆，所述第一驱动杆与所述第一滑套之间转动连接，所述第一驱动杆与所述第一定位杆之间螺纹连接。

具体的，所述导向结构包括外圈、四根传动轴、卡块、限位套和泄压片，四根所述传动轴分别转动连接于所述框架和所述第一滑套，所述框架的内部的所述传动轴上设有所述带轮，所述传动轴上的所述带轮的直径大于所述摇杆上的所述带轮的直径，所述传动轴的圆周方向上至少设有三个所述卡块，所述限位套与所述卡块卡合，所述限位套与所述传动轴卡合，所述限位套的圆周方向上圆周阵列设有多个S形结构的所述泄压片，所述泄压片背离所述限位套的一端设有所述外圈，所述限位套设于所述外圈的内部。

具体的，所述检测结构包括第二驱动杆、第二滑套、固定板、滑杆、检测板、第二定位杆、导向轮和复位弹簧，所述第二定位杆垂直固定于所述框架，所述第二定位杆上滑动连接有截面为U形结构的所述第二滑套，所述第二驱动杆贯穿连接于所述第二滑套和所述第二定位杆，所述第二滑套背离所述第二定位杆的一端设有截面为T形结构的用于固定千分表的所述固定板，所述滑杆与所述第二滑套之间滑动连接，所述滑杆与所述第二滑套之间连接有所述复位弹簧，所述滑杆的侧壁对称设有多个转动连接的所述导向轮，所述导向轮与所述第二滑套之间滚动连接，所述滑杆背离所述复位弹簧的一端设有所述检测板。