[发明专利]一种SAR型ADC的增益误差的校准装置及其校准方法

权利要求书

1.一种SAR型ADC的增益误差的校准装置，其特征在于，包括增益误差校准电容阵列(13)、增益误差校准极性控制开关(14)、增益误差校准精度控制开关阵列(15)、伪差分电容(16)；

所述比较器(10)的负向输入端接有采样保持电容阵列(11)，所述采样保持电容阵列(11)中的电容的另一端分别通过采样保持控制开关(12)与Vin或参考电压负n相连接；

所述校准电容阵列(13)通过校准极性控制开关(14)与所述比较器(10)的负向输入端或正向输入端相连接，所述校准电容阵列(13)中的电容的另一端通过采样保持控制开关(12)与增益误差校准精度控制开关(15)或参考电压负n相连接，所述增益误差校准精度控制开关(15)与Vin或参考电压负n相导通；

所述比较器(10)的正向输入端接有伪差分电容(16)。

2.根据权利要求1所述的SAR型ADC的增益误差的校准装置，其特征在于，所述伪差分电容(16)电容值与采样保持电容阵列(11)的电容值总和相等。

3.一种根据权利要求1或2所述的SAR型ADC的增益误差的校准装置的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)在校准电容阵列(13)不参与校准时，采样保持电容阵列(11)经采样阶段和转换阶段，得到ADC的特征曲线；

2)判断ADC的增益误差的正负极性，若ADC的增益误差为正，将校准电容阵列(13)通过校准极性控制开关(14)接入所述比较器(10)的正向输入端；

若ADC的增益误差为负，将校准电容阵列(13)通过校准极性控制开关(14)接入所述比较器(10)的负向输入端；

3)将校准电容阵列(13)通过增益误差校准精度控制开关(15)接入Vin或参考电压负n，从而调节校准幅度。

4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，步骤1)的具体操作为：

在采样阶段，采样保持电容阵列(11)通过采样保持控制开关(12)接Vin，校准电容阵列(13)接入参考电压负n；

在转换阶段，采样保持电容阵列(11)通过采样保持控制开关(12)接参考电压负n，校准电容阵列(13)接入参考电压负n，ADC完成一次AD转换。

5.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，步骤3)的具体操作为：在转换阶段，采样保持电容阵列(11)通过采样保持控制开关(12)接参考电压负n，校准电容阵列(13)接入参考电压负n；

在采样阶段，采样保持电容阵列(11)通过采样保持控制开关(12)接Vin，根据电容线性度误差，将校准电容阵列(13)中相应的电容接入Vin，实现预设误差值的校准。