[发明专利]电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置在审

专利信息
申请号: 202010165428.7 申请日: 2020-03-11
公开(公告)号: CN111190417A 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 张楚坤;黄华林 申请(专利权)人: 深圳市盛泰奇科技有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 代理人: 郑学伟;叶利军
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电磁 干扰 装置 具有 伺服 驱动 测试
【说明书】:

发明公开了一种电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置,其中,该电磁干扰装置,适于对被测伺服驱动装置施加电磁干扰,其包括交流接触器及延时继电器,所述延时继电器的电源端连接至交流电源,所述延时继电器的延时常开触点连接至所述交流接触器的线圈,以使所述交流接触器的线圈在所述延时常开触点闭合时通电以及在所述延时常开触点断开时断电,进而产生干扰所述被测伺服驱动装置的电磁波。根据本发明实施例提供的电磁干扰装置,延时继电器可以控制交流接触器的线圈不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。

技术领域

本发明涉及伺服驱动技术领域,尤其涉及一种电磁干扰装置及具有它的伺服驱动装置测试装置。

背景技术

伺服驱动装置一般包括伺服电机、伺服控制器及编码器,利用伺服控制器实现对伺服电机的精确控制。伺服驱动装置被广泛应用于工业机器人及数控加工中心等自动化设备中。

对于伺服驱动装置,一般需要在出厂之前需要在高温、低温等环境下对其进行性能测试。相关技术中,针对伺服驱动装置的测试,没有能够有效且可靠地模拟测试环境的测试装置,以至于伺服驱动装置的测试效果不佳。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本发明的一个目的在于提出一种电磁干扰装置。

本发明的另一个目的在于提出一种伺服驱动装置测试装置。

为实现上述目的,一方面,根据本发明实施例的电磁干扰装置,适于对被测伺服驱动装置施加电磁干扰,其包括:

交流接触器;

延时继电器,所述延时继电器的电源端连接至交流电源,所述延时继电器的延时常开触点连接至所述交流接触器的线圈,以使所述交流接触器的线圈在所述延时常开触点闭合时通电以及在所述延时常开触点断开时断电,进而产生干扰所述被测伺服驱动装置的电磁波。

根据本发明实施例提供的电磁干扰装置,延时继电器可以控制交流接触器的线圈不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。

根据本发明的一个实施例,所述交流接触器的线圈适于绕制在所述被测伺服驱动装置的信号线上。

根据本发明的一个实施例,所述交流接触器的线圈并联一指示灯。

根据本发明的一个实施例,所述交流接触器的线圈的圈数为20至30圈。

另一方面,根据本发明实施例的伺服驱动装置测试装置,包括:

封闭测试室,所述封闭测试室适于容置被测伺服驱动装置;

如上所述电磁干扰装置,所述电磁干扰装置设在所述封闭测试室内,用以产生电磁波,以对所述被测伺服驱动装置施加电磁干扰。

根据本发明实施例提供的伺服驱动装置测试装置,具有如上所述的电磁干扰装置,延时继电器可以控制交流接触器的线圈不断的通电和断电,进而产生电磁波信号,利用该电磁波信号可以对被测伺服驱动装置在测试过程进行干扰,使得测试环境更加接近实际真实环境,进而得到更加准确可靠的测试结果。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

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