[发明专利]材料样本，显示方法和估计方法

说明书

提供一种即使在材料的浓度分布不对称时也能够充分呈现材料样本的产品规格的技术。根据本公开的材料样本存储具有根据概率分布而变化的材料。作为材料样本的产品规格，显示概率分布的代表值以及材料量大于或等于关于概率分布的目标概率的区间。

技术领域

本公开涉及一种用于定量测定储存在容器中的材料的技术。

背景技术

为了测量基因测定装置的检测极限或为低浓度区域创建用于定量测定的校准曲线，必须使用具有保证准确性的低份(copy)数核酸参考材料以进行定量测定。作为用于创建定量的核酸参考材料的方法，例如，使用进行DNA(脱氧核糖核酸)溶液的限制稀释的方法，或使用喷墨分配包含DNA的细胞的方法。

已知限制稀释方法可提供服从泊松分布的稀释浓度。如果该浓度相对较高，则这种分布可以近似于正态分布。然而，如果该浓度低(特别是，如果核酸分子的份数为1至100)，则该分布的右侧(正侧)相对较长。此外，存在该分布变得离散的相对突出的趋势。

日本专利申请号2018-096636描述了一种使用喷墨分配单元的方法。该方法在分配过程中的细胞测量精度达不到100％，并且所产生的浓度分布是不对称的，例如，由于细胞的聚集，右侧比左侧长。另外，这样的分布不是可以由数学表达式表示的像泊松分布的普通分布。

为了示出核酸参考材料的产品规格，有必要提供该产品中所含核酸参考材料的浓度。具体地，代表代表浓度的规格值(通常使用平均值)和浓度变化很重要。特别地，关于变化的规格值越小意味着浓度精度越高。因此，重要的是使用适当的表示变化的方法。此外，核酸参考材料的浓度分布可能会根据创建该物质的方法而有所不同，某些浓度分布可能无法使用共同的分布表示。因此，期望使用一种能够计算浓度而与分布的形状无关的方法。即，必须使用非参数方法来计算浓度。

作为计算和显示参考材料的产品规格的方法，已知一种基于假设浓度变化服从正态分布的方法(以下称为正态分布方法)。正态分布方法是一种估计区间的方法，在该区间中，参考材料的浓度在平均值±2σ的范围内(其中σ是浓度分布的标准偏差)。该方法假定浓度分布服从正态分布，因此被称为参数方法之一。

一种用于计算过程能力指数的百分点方法，确定概率分布函数或具有给定形状的概率分布上的p％点和(1-p)％点。p％点是指具有给定值以下的现象的发生概率为p％的点。例如，标准正态分布上的2.275％点和97.725％点分别对应于–2和+2。另外，当针对区间[p％点,(1-p)％点]的累积概率要满足目标概率α时，则p＝(1–α)100/2。可以使用百分比点，而与概率分布的形状无关。因此，可以使用百分点来以非参数方式确定浓度。例如，当使用基于百分点方法考虑过程能力指数的方式时，可以确定浓度在非正态分布范围内的概率为95.45％的区间，例如，它等于正态分布上的平均值±2σ。

WO 2006/030822描述了以下技术作为校正DNA芯片的数据分布中的不均匀性的技术：“DNA芯片上的数据中的不均匀性被适当地检测，并且如果可能的话，并被校正。在用于处理基于基因在DNA芯片上的表达水平而获得的阵列数据并由此获得可分析的数据的基因表达数据处理方法中，将DNA芯片划分为小区域。形成阵列数据的数据的值被标准化(步骤300)。计算每个小区域的标准化数据值的平均值或中值的标准偏差(步骤310)。基于标准偏差的增加来检测DNA芯片上数据中是否存在不均匀性(步骤310)”(参见摘要)。

日本未经审查的专利申请公开号2004-257809描述了一种技术，其基于以下目的：“提供通过将已知量的已知元素分散在塑料基础材料中而制备的标准塑料材料，该标准塑料材料具有预定厚度并能够提供准确分析结果的方法及其制造方法、“用预定的激发光束照射标准塑料的多个部分，以抑制从所述元素生成的荧光X射线强度的变化小于或等于相对标准偏差的10％”(请参见摘要)。

引文文献列表

专利文献

专利文献1：日本专利申请号2018-096636