[发明专利]一种低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法有效
| 申请号: | 202010163430.0 | 申请日: | 2020-03-10 |
| 公开(公告)号: | CN112505759B | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
| 发明(设计)人: | 许胜利;胡云亭;张学敏;颜春玲;白瑞婷;杨彩红 | 申请(专利权)人: | 中海油能源发展股份有限公司 |
| 主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30;G01V1/50 |
| 代理公司: | 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 | 代理人: | 谢萌;王秀奎 |
| 地址: | 100010 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 砂岩 储层含气 饱和度 分布 预测 方法 | ||
1.一种低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:收集、分析研究区的基础资料,包括研究区的地震数据、构造高点海拔深度、气-水界面海拔深度、岩石有效孔隙度与总孔隙度之比、圈闭的封闭性、圈闭与烃类运移通道的匹配性、储层孔隙度平面分布和圈闭构造平面分布;
步骤2:根据地震反演数据体或已知井点气藏孔隙度获取储层平均孔隙度平面分布、气藏分布范围、气藏分布的最低构造海拔和构造高点海拔数据;
步骤3:获取圈闭内已知井点气藏的含气高度h,即得到已知井点处的含气饱和度Sm和井点距离气-水界面的高度Hm;
步骤4:获取不同圈闭储层平均孔隙度条件下对应的圈闭形成纯气藏的最小圈闭幅度,即低渗气藏形成纯气层的高度Ho;
步骤5:利用步骤4中不同圈闭储层平均孔隙度条件下低渗气藏形成纯气层的高度Ho的计算成果和步骤3中获得的圈闭内已知井点气藏的含气高度,并结合圈闭构造平面分布,计算各低渗砂岩圈闭中某一点的含气饱和度Sg;
步骤6:综合各低渗砂岩圈闭的含气饱和度分布得到研究区含气饱和度的平面分布。
2.根据权利要求1所述的低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,在步骤2中,利用已有的地震叠前反演成果获得储层平均孔隙度利用已知井点气藏的含气性和圈闭构造平面分布获得气藏分布的最低海拔和高点海拔;或者,利用已知井点气藏求取某一层的储层孔隙度的平均值作为该层的储层平均孔隙度
3.根据权利要求1所述的低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,在步骤3中,所述圈闭内含气高度可通过油藏开发过程中获得的气-水界面深度和构造高点海拔获得,或通过气藏分布范围对应的最低构造海拔和构造高点海拔获得。
4.根据权利要求1所述的低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,在步骤4中,不同圈闭储层平均孔隙度条件下低渗气藏形成纯气层的高度Ho可通过计算方法获得,计算公式如下:
其中,a、b、c默认值分别为10、600、60。
5.根据权利要求1所述的低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,在步骤4中,当圈闭内有多个已知井点气藏分布时,不同圈闭储层平均孔隙度条件下低渗气藏形成纯气层的高度Ho可通过模型回归法获得,即通过多个已知井点气藏的含气饱和度与构造相对高度的关系,通过数据交绘,获得某一平均孔隙度分布条件下气藏内含气饱和度与构造相对位置的函数关系,取第一个含气饱和度100%对应的高度为Ho值。
6.根据权利要求1所述的低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,在步骤5中,Sg为低渗砂岩圈闭中海拔为Hx的点的含气饱和度,当Hx–GWCH0时,此时有效孔隙内全部充注为气,在开采时产气且不含水,称之为纯气层,Sg表示为:
其中,Ho为低渗气藏形成纯气层的高度,单位m;GWC为气-水界面海拔深度,单位m;为岩石有效孔隙度与总孔隙度之比,单位%;F为圈闭的封闭性,封闭圈闭取值为1,开启圈闭取值为0;P为圈闭与烃类运移通道的匹配性,圈闭沟通运移通道时取值为1,圈闭无法沟通运移通道时取值为0,已知的气藏F和P取值为1。
7.根据权利要求1所述的低渗砂岩储层含气饱和度分布的预测方法,其特征在于,在步骤5中,Sg为低渗砂岩圈闭中海拔为Hx的点的含气饱和度,当HxGWC,即所述海拔为Hx的点位于圈闭之外时,Sg表示为:
Sg=0,
其中,GWC为气-水界面海拔深度,单位m。
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