[发明专利]数据处理方法及阵列型传感器有效
| 申请号: | 202010155814.8 | 申请日: | 2020-03-06 |
| 公开(公告)号: | CN111307182B | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
| 发明(设计)人: | 雷述宇 | 申请(专利权)人: | 宁波飞芯电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01D5/12 | 分类号: | G01D5/12 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 崔熠 |
| 地址: | 315000 浙江省宁*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数据处理 方法 阵列 传感器 | ||
1.一种数据处理方法,其特征在于,应用于阵列型传感器,所述阵列型传感器包括:处理单元以及多个阵列单元,每个所述阵列单元包括处理模块,其中,各所述阵列单元中的所述处理模块均与所述处理单元通信连接,所述方法包括:
所述处理单元获取各所述处理模块计算的相应阵列单元的数据特征量;
所述处理单元根据预设噪声特征量以及每个所述阵列单元对应的所述数据特征量,筛选符合条件的所述阵列单元;
所述处理单元控制所述符合条件的所述阵列单元向数据接收方发送数据;
所述处理单元获取各所述处理模块计算的相应阵列单元的数据特征量,包括:
所述处理模块在第一预设时段内采集所述阵列单元的多个第一数据,并根据多个所述第一数据计算获取数据集的均值,其中,计算均值的具体过程为:按照采样顺序逐个累加阵列单元发出的数据,然后根据采样率和采样时间得出的采样个数计算采样的数据的均值;所述处理模块在第二预设时段内采集所述阵列单元的多个第二数据,根据所述均值和多个所述第二数据计算获取方差,将所述方差作为对应阵列单元的数据特征量,其中,计算方差的具体过程为:将各采样时间点采集获取的阵列单元的数据与所述均值相减并求平方值,并且每个获取的数据计算后得到的数值进行累加,之后根据采样率和采样时间得出的采样个数计算得出方差;所述处理模块向所述处理单元发送所述数据特征量;或者,
所述处理模块在第一预设时段内采集所述阵列单元的多个第一数据,并根据多个所述第一数据计算获取所述均值,其中,计算均值的具体过程为:按照采样顺序逐个累加阵列单元发出的数据,然后根据采样率和采样时间得出的采样个数计算采样的数据的均值;所述处理模块在第二预设时段内采集所述阵列单元的多个第二数据,并根据多个所述第二数据计算获取平方均值,其中,计算平方均值的具体过程为:按照采样顺序将采集的数据的平方值进行累加,然后根据采样率和采样时间得出采样的个数以计算采样的数据的平方值的均值,得到采集的第二数据的平方均值;所述处理模块向所述处理单元发送所述均值和所述平方均值;所述处理单元根据所述均值以及所述平方均值计算获取方差,将所述方差作为对应阵列单元的数据特征量。
2.如权利要求1所述的数据处理方法,其特征在于,所述预设噪声特征量为预设固定值、满足预设条件的所述数据特征量以及基于对静止物体的采样获得的噪声特征量中的任意一种。
3.如权利要求2所述的数据处理方法,其特征在于,所述预设噪声特征量为满足预设条件的所述数据特征量,所述处理单元根据预设噪声特征量以及每个所述阵列单元对应的所述数据特征量,筛选符合条件的所述阵列单元之前,所述方法还包括:
所述处理单元选取所述数据特征量中的最小值作为所述预设噪声特征量;
或所述处理单元获取所述数据特征量组成的集合位于预设分位点的数值作为所述预设噪声特征量。
4.如权利要求1所述的数据处理方法,其特征在于,所述处理单元根据所述预设噪声特征量以及每个所述阵列单元对应的数据特征量,筛选符合条件的所述阵列单元,包括:
所述处理单元根据所述预设噪声特征量以及每个所述阵列单元对应的数据特征量,计算获取每个所述阵列单元的信噪比;
所述处理单元比较所述信噪比与预设的标定信噪比的大小,将所述信噪比大于所述标定信噪比的所述阵列单元作为所述符合条件的阵列单元;
其中,预设的所述标定信噪比包括预设固定值和/或每个所述阵列单元对应的所述信噪比组成的集合位于预设分位点的数值。
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