[发明专利]获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，包括：

选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；

以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；

将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs；

其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面，并将所有的平面加入面的集合；

将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个面的集合TPS，将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项；

在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs；

获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；

在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D；

求取点Pa和Pc中点Mp，分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd；

计算中心点Pa到点Pc的距离D1，以及获取点Pb到所述平面D的距离D2，并将所述距离D1设为方槽的长度，以及将所述距离D2设为方槽的宽度。

2.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A，获取原始面A的法向量Va和中心点Pa，包括，

获取所述原始面A的类型；

若原始面A为平面，则直接获取平面的法向量Va和中心点Pa；

若原始面A为样条曲面，则将原始面A按照等面积方法离散成点的集合Pas，在容差Tol范围内用最小二乘法拟合集合Pas成平面，并获取平面的法向量Va和中心点Pa。

3.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向构成射线lin，包括：

先将中心点Pa沿法向量Va方向平移并获得点Pa1，再由所述点Pa1沿所述法向量Va方向构成射线lin。

4.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，在所述交集PlaneBDs中，获取每个平面的法向量，将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D，包括，

获取法向量反向的平面的组数；

若所述组数大于1或者小于1，则流程结束；

若所述组数等于1，则将法向量反向的一组平面提取出来，作为平面B和平面D。

5.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，包括：

删除非直线段的边以及无法在容差Tol范围用最小二乘法拟合成直线段的边，将剩余的边组成边的集合。

6.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，还包括：

过滤起始面的内部孔或者干扰线。

7.根据权利要求1所述的测量过程中获取方槽理论值的方法，其特征在于，还包括：

根据所述中心点Pa和所述法向量Va记录空间几何平面，并将该空间几何平面作为方槽的一个面，并记录点Pb、点Pc以及点Pd所在的面，并分别作为方槽的另外三个面。