[发明专利]探针、检查夹具及检查组件在审

专利信息
申请号: 202010150221.2 申请日: 2020-03-06
公开(公告)号: CN111856090A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 笹野直哉;寺西宏真;酒井贵浩 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张劲松
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 探针 检查 夹具 组件
【说明书】:

本发明提供一种探针、检查夹具及检查组件,探针接触可靠性高,检查夹具具备探针,检查组件具备检查夹具。探针具备:弹性部,其可沿着第一方向弹性变形;第一接触部,其设置于弹性部的第一方向的一端;第二接触部,其设置于弹性部的第一方向的另一端。弹性部具有多个横向带部及至少一个弯曲带部。第一接触部及第二接触部各自相对于穿过弹性部的第二方向的中心且沿着第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧。从第二方向观察,至少第一接触部的侧面具有相对于穿过第三方向的中心且沿着第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。

技术领域

本发明涉及一种探针、检查夹具及检查组件。

背景技术

通常,在照相机或液晶面板等电子部件模块中,通常,在其制造工序中,进行导通检查及动作特性检查等。这些检查通过使用探针将用于与设置于电子部件模块的主体基板连接的端子和检查装置的端子连接来进行。

作为这样的探针,专利文献1中记载了一种探针。该探针具备能够分别与电子部件的电极端子及被连接电子部件的电极端子接触的一对触头和介于一对触头之间并连接一对触头的曲折部。

专利文献

专利文献1:日本特开2002-134202号公报

发明所要解决的问题

在所述探针中,各触头构成为与电极端子在一个点接触,因此,例如,在各触头的前端附着有非导体的异物的情况下,因该异物而在所述探针与电极端子之间发生导通不良,有时接触可靠性降低。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种接触可靠性高的探针、具备该探针的检查夹具及具备该检查夹具的检查组件。

用于解决问题的技术方案

本发明的一例的探针具备:弹性部,其可沿第一方向弹性变形;第一接触部,其设置于所述弹性部的所述第一方向的一端;第二接触部,其设置于所述弹性部的所述第一方向的另一端,所述弹性部具有:沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸并且在所述第一方向隔开间隔配置的多个横向带部、与相邻的所述横向带部连接的至少一个弯曲带部,所述第一接触部及所述第二接触部各自相对于穿过所述弹性部的所述第二方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧,并具有在与所述第一方向及所述第二方向交叉的第三方向相对的一对板面和与所述一对板面交叉的侧面,从所述第二方向观察,至少所述第一接触部的所述侧面具有相对于穿过所述第三方向的中心且沿着所述第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。

另外,本发明的一例的检查夹具具备:所述探针;壳体,其内部收纳有所述探针。

另外,本发明的一例的检查组件具备至少一个所述检查夹具。

发明效果

根据所述探针,第一接触部及第二接触部各自相对于穿过弹性部的第二方向的中心且沿着第一方向延伸的第一中心线配置于同一侧。另外,从第二方向观察,至少第一接触部的侧面具有相对于穿过第三方向的中心且沿着第一方向延伸的第二中心线不对称的形状。通过这种结构,例如,若使检查对象物或检查装置的连接端子在与第一接触部接触的状态下,沿着第一方向朝着第二接触部移动,则第一接触部在与检查对象物或检查装置的连接端子接触的状态下,在包括第一方向及第二方向的第一平面上相对于第二接触部旋转,同时在包括第一方向及第三方向的与第一平面交叉的第二平面上相对于第二接触部旋转。即,能够对检查对象物或检查装置的连接端子同时进行两个不同方向的擦拭动作。其结果,例如,即使第一接触部的与连接端子接触的部分附着有非导体的异物,也能够容易地除去该异物,因此,能够实现接触可靠性高的探针。

根据所述检查夹具,利用所述探针能够实现接触可靠性高的检查夹具。

根据所述检查组件,利用所述检查夹具能够实现接触可靠性高的检查组件。

附图说明

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