[发明专利]基于双数据的微服务测试方法、装置和计算机设备

说明书

本申请揭示了一种基于双数据的微服务测试方法、装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括：接收对微服务进行测试的测试指令；在指定时间内实时采集所述微服务的数据，并提取出第一特征数据和第二特征数据；获取与第一特征数据对应的指定折射率，以及获取与第二特征数据对应的指定厚度；生成虚拟介质层；生成虚拟光源，并利用所述虚拟光源沿着指定方向向所述虚拟介质层的顶部发射虚拟光线；若所述虚拟介质层的底部呈现所述虚拟光线形成的光斑，则获取光斑位置，并计算所述光斑位置与预设的标准位置的距离；若所述距离不大于预设的距离阈值，则判定所述微服务测试通过。从而提高了测试的准确性、灵活性并提高了测试效率。

技术领域

本申请涉及到计算机领域，特别是涉及到一种基于双数据的微服务测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

计算机领域中的微服务是提供宏观服务的极小单元，一个计算机服务产品的质量，与微服务的质量息息相关。获取微服务的质量，需要对微服务进行测试。目前传统对于微服务的测试，一般是通过获取用户使用微服务后的信息进行分析(例如获取用户使用微服务前后产生的数据变化等)。而上述传统的微服务的测试方法，存在数据单一、且数据处理抽象的缺陷，导致测试的准确性不足、灵活性不足、效率不高的缺点。

发明内容

本申请的主要目的为提供一种基于双数据的微服务测试方法、装置、计算机设备和存储介质，旨在提高测试的准确性、灵活性并提高测试效率。

为了实现上述发明目的，本申请提出一种基于双数据的微服务测试方法，包括以下步骤：

接收对微服务进行测试的测试指令；

根据所述测试指令，在指定时间内实时采集所述微服务的数据，并根据预设的特征数据提取方法，从所述微服务的数据中提取出第一特征数据和第二特征数据，其中所述第一特征数据为动态数据，所述第二特征数据为静态数据；

根据预设的数据与折射率的对应关系，获取与所述第一特征数据对应的指定折射率，以及根据预设的数据与厚度的对应关系，获取与所述第二特征数据对应的指定厚度；

在预设的虚拟空间中，生成虚拟介质层，其中所述虚拟介质层的折射率等于所述指定折射率，所述虚拟介质层的厚度等于所述指定厚度，所述虚拟空间中除所述虚拟介质层之外的区域的折射率大于所述指定折射率，所述虚拟空间符合光线折射的原理；

在所述虚拟介质层的顶部上方的指定位置上生成虚拟光源，并利用所述虚拟光源沿着指定方向向所述虚拟介质层的顶部发射虚拟光线，其中所述指定方向与所述虚拟介质层的夹角不为直角；

判断所述虚拟介质层的底部是否呈现所述虚拟光线形成的光斑；

若所述虚拟介质层的底部呈现所述虚拟光线形成的光斑，则获取光斑位置，并计算所述光斑位置与预设的标准位置的距离，其中所述标准位置位于所述虚拟介质层的底部；

判断所述距离是否大于预设的距离阈值；

若所述距离不大于预设的距离阈值，则判定所述微服务测试通过。

进一步地，所述根据预设的特征数据提取方法，从所述微服务的数据中提取出第一特征数据的步骤,包括：

根据预设的动态数据选取方法，从所述微服务的所有动态数据中选取指定动态数据，并将所述指定动态数据分为等时长的m段第一子动态数据，其中m为大于1的整数；

以及调取预存的标准动态数据，并将所述标准动态数据分为等时长的m段第二子动态数据，其中所述第一子动态数据与所述第二子动态数据的时长相等，所述m段第一子动态数据和所述m段第二子动态数据一一对应；

根据预设的子数据相似计算方法，对应计算所述第一子动态数据和所述第二子动态数据的相似度，从而对应得到m个相似度值；