[发明专利]塞规以及用于密封塞规的相关方法

说明书

本发明涉及一种塞规以及用于密封塞规的相关方法。塞规包括限定内部容积和纵向轴线A_H的壳体。壳体包括进入内部容积的开口。塞规还包括至少部分地接收在开口中的接触元件。塞规还包括至少部分地接收在内部容积中的柱塞。柱塞被偏置成与接触元件接合，以推动接触元件从壳体径向向外穿过开口。塞规还包括在接触元件和壳体之间的密封构件。

技术领域

本申请涉及孔度量衡，并且更具体地涉及用于防止碎屑进入塞规中的密封塞规和相关方法。

背景技术

存在多种测量工具用于确定圆柱形孔的直径。这种类型的测量工具通常包括通过接触孔内的直径上相对的点来起作用的装置。这种类型的测量工具的例子包括塞规。典型的塞规包括具有一对成角度设置的弹簧加载触头的中心壳体(在垂直于壳体的纵向轴线设置的中心线的两侧各有一个触头)以及联接到触头并沿着纵向轴线定位的柱塞。当壳体插入到孔内时，触头沿中心线的运动被转换成柱塞沿纵向轴线的运动。测量工具，例如千分表，可操作地联接到柱塞以测量柱塞的线性位移。通常，触头突出穿过壳体中的开口。这些开口允许位于孔内的碎屑和其它污染物进入壳体。这种碎屑会对塞规的操作和精度产生负面影响。因此，本领域技术人员继续在内孔测量装置的领域进行研究和开发，并且因此，旨在解决上述关注的设备和方法将找到实用性。

发明内容

以下是根据本公开的主题的实施例的非穷举列表，其可能要求或可能不要求权利保护。

在一实施例中，所公开的塞规包括限定内部容积和纵向轴线A_H的壳体。壳体包括进入内部容积的开口。塞规还包括至少部分地接收在开口中的接触元件。塞规还包括至少部分地接收在内部容积中的柱塞。柱塞被偏置成与接触元件接合，以推动接触元件从壳体径向向外穿过开口。塞规还包括在接触元件和壳体之间的密封构件。

在一实施例中，所公开的用于防止碎屑进入塞规中的方法包括将密封构件放置在接触元件和壳体之间的步骤，该塞规包括具有开口的壳体、至少部分地接收在开口中的接触元件、以及被偏置成与接触元件接合以推动接触元件从壳体向外穿过开口的柱塞。

从以下详细描述、附图和所附权利要求，所公开的塞规和方法的其它实施例将变得显而易见。

附图说明

图1是所公开的密封塞规的一个实施例的立体图；

图2是图1的密封塞规的横截面侧视图；

图3是图2的密封塞规的一个密封构件的立体图；

图4是横截面侧视图，描绘了插入到形成在结构中的孔中的图2的密封塞规；

图5是所公开的密封塞规的另一实施例的一部分的横截面侧视图；

图6是图5的密封塞规的环形隔膜密封件密封构件的正视图；

图7是所公开的密封塞规的又一实施例的侧截面侧视图；

图8是图7的密封塞规的横截面侧视图，密封塞规示出为从图7所示的定向旋转九十度；

图9是描绘用于将塞规密封的所公开的方法的一个实施例的流程图；

图10是飞行器制造和维修方法的流程图；以及

图11是飞行器的方框图。

具体实施方式

以下详细描述参考附图，附图示出了本公开所描述的具体实施例。具有不同结构和操作的其它实施例不脱离本公开的范围。在不同的附图中，相同的附图标记可以指代相同的特征、元件或部件。