[发明专利]天线测试方法、设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种天线测试方法，其特征在于，所述方法应用于天线测试设备，所述天线测试设备包括第一探针和第二探针，所述天线测试设备用于测试待测电路板，所述待测电路板包括多个天线电路和导线端口，各所述天线电路与所述导线端口连接，以使各所述天线电路并联，每个所述天线电路包括待测天线，所述方法包括：

控制所述第一探针移动，以使所述第一探针与一个所述待测天线接触；

控制所述第二探针移动，以使所述第二探针分别与其余的每个所述待测天线接触，使得所述第一探针、第一探针接触的所述待测天线、第二探针和第二探针接触的所述待测天线四者形成天线测试回路；

在每次形成所述天线测试回路时，检测所述天线测试回路是否为通路，得到每个所述待测天线的连接测试结果。

2.如权利要求1所述的天线测试方法，其特征在于，所述天线测试设备包括摄像头，所述待测电路板放置于天线检测平台，所述天线检测平台位于所述摄像头的拍摄范围内；所述控制所述第一探针移动，以使所述第一探针与一个所述待测天线接触，包括：

控制预置摄像头对所述待测电路板进行俯拍，得到包含所述待测电路板的俯拍图像；

根据所述俯拍图像，确定每个所述待测天线在所述天线检测平台中的位置坐标；

获取所述第一探针投影在所述天线检测平台上的投影点的第一预设位置坐标；

根据每个所述待测天线的位置坐标和所述第一预设位置坐标，确定目标待测天线；

根据所述第一预设位置坐标、所述目标待测天线的所述位置坐标和预设距离，控制所述第一探针移动，以使所述第一探针与所述目标待测天线接触。

3.如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于，所述根据每个所述待测天线的位置坐标和所述第一预设位置坐标，确定目标待测天线，包括：

根据每个所述待测天线的位置坐标和所述第一预设位置坐标，确定每个所述待测天线与所述第一探针之间的水平距离；

将所述水平距离最短的所述待测天线作为目标待测天线。

4.如权利要求1所述的天线测试方法，其特征在于，所述天线测试设备包括摄像头，所述待测电路板放置于天线检测平台，所述天线检测平台位于所述摄像头的拍摄范围内；所述控制所述第二探针移动，以使所述第二探针分别与其余的每个所述待测天线接触，使得所述第一探针、第一探针接触的所述待测天线、第二探针和第二探针接触的所述待测天线四者形成天线测试回路，包括：

控制预置摄像头对所述待测电路板进行俯拍，得到包含所述待测电路板的俯拍图像；

根据所述俯拍图像，确定其余每个所述待测天线在所述天线检测平台中的位置坐标；

获取所述第二探针投影在所述天线检测平台上的投影点的第二预设位置坐标；

根据其余每个所述待测天线的位置坐标和所述第二预设位置坐标，确定所述第二探针的移动轨迹；

根据所述移动轨迹控制第二探针移动，以使所述第二探针分别与其余的每个所述待测天线接触，使得所述第一探针、第一探针接触的所述待测天线、第二探针和第二探针接触的所述待测天线四者形成天线测试回路。

5.如权利要求1所述的天线测试方法，其特征在于，所述检测所述天线测试回路是否为通路，包括：

检测所述天线测试回路是否有电流；

若检测到所述天线测试回路有电流，则确定所述天线测试回路为通路；

若检测到所述天线测试回路无电流，则确定所述天线测试回路为断路。

6.如权利要求1所述的天线测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

在得到每个所述待测天线的连接测试结果后，根据每个所述待测天线的连接测试结果，确定连接异常的所述待测天线；

获取连接异常的所述待测天线的天线编号，并显示所述天线编号。