[发明专利]一种氧化亚氮同位素δ15

权利要求书

1.一种氧化亚氮气体同位素δ¹⁵N的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）N₂O标准气体的制备：配制四种同位素标准品溶液，所述四种同位素标准品为USGS-32，USGS-34，IAEA-NO-3和RSIL-N7373；将致金色假单胞菌菌液分别加入四种同位素标准品溶液中，使硝酸盐完全转化为N₂O，该N₂O即为四种同位素标准品经反硝化菌致金色假单胞菌转化后产生的N₂O标准气体；所述的四种同位素标准品溶液用蒸馏水配制，终浓度为0.1-0.3mM；

（2）用同位素质谱仪测定N₂O标准气体的同位素实测值δ¹⁵N^bulk和δ¹⁵N^α；

（3）将实测值与真值进行线性回归，得到校正方程；所述真值是指四种同位素标准品的δ¹⁵N值，其中USGS-32的δ¹⁵N值为180‰，USGS-34的δ¹⁵N值为-1.8‰，IAEA-NO-3的δ¹⁵N值为4.7‰，RSIL-N7373的δ¹⁵N值为-79.6‰；

（4）将待测N₂O气体同位素的实测值δ¹⁵N^bulk和δ¹⁵N^α代入校正方程中，实现对N₂O气体同位素δ¹⁵N的校正。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤（1）的四种同位素标准品溶液设置3-5个重复；步骤（1）中，致金色假单胞菌的菌液按照与同位素标准品溶液的体积比10:1-20:1的比例分别加入四种同位素标准品溶液中，在密闭容器中培养8-16 h，在每个密闭容器中加入氢氧化钠溶液，以裂解细菌并终止反应。

3.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，步骤（2）中，在同位素质谱仪配备5个接收模块，可进行m / z 44、45、46、30和31的同时测量从而允许对N₂O⁺离子和碎片NO⁺离子进行耦合测量，达到了对N₂O气体一次进样同时测定δ¹⁵N^bulk和δ¹⁵N^α的效果；所述N₂O⁺离子为44：N¹⁴-N¹⁴-O¹⁶；45：N¹⁵-N¹⁴-O¹⁶，N¹⁴-N¹⁵-O¹⁶，N¹⁴-N¹⁴-O¹⁷；46：N¹⁴-N¹⁴-O¹⁸；所述碎片NO⁺离子为30：N¹⁴-O¹⁶；31：N¹⁵-O¹⁶，N¹⁴-O¹⁷。

4.根据权利要求1-3任一所述的校正方法，其特征在于，步骤（2）在利用同位素质谱仪测定过程中，待测气体通过-70℃的低温恒温槽装置去除烃类干扰物质，再进行N₂O标准气体的同位素δ¹⁵N^bulk和δ¹⁵N^α实测值的测定。

5.根据权利要求1-3任一所述的校正方法，其特征在于，步骤（2）中，120 mL顶空瓶顶空时间500s，或，20 mL顶空瓶顶空时间150s；Precon捕集阱捕集后吹扫时间大于150s，以防止外源离子干扰。