[发明专利]GaN高温功能试验系统

说明书

本发明公开了GaN高温功能试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，柜体底部四个角的位置设置柜脚，其特征在于：柜体中部设置操作台，操作台上方设置工业控制计算机，工业控制计算机上方横向并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机两侧均设置烘箱，烘箱下方设置电源，烘箱的数量为4个，工业控制计算机两侧分别纵向设置2个烘箱，同侧烘箱之间设置测试柜，操作台下方设置接线柜，本发明很好地解决了现有高温功能试验系统不能做不同温度下的参数试验的问题，对器件可靠性的检测也更加精确，同时，灵活性显著提升，实现了对不同器件或者参数的检测，有效地节约了成本。

技术领域

本发明涉及试验设备技术领域，具体是GaN高温功能试验系统。

背景技术

在GaN器件的生产领域，为保证器件的可靠性，厂家在器件出厂前会采用一系列可靠性试验进行检测、筛选，针对器件不同的使用环境，采用的可靠性试验的种类、条件也会有所差异，对于GaN器件来说，高温功能试验，是器件出厂前必做的试验之一，该试验对剔除具有表面效应缺陷的早期失效器件特别有效，这些器件的失效与时间和应力有关，如未经该试验，这些器件在正常的使用条件下会发生早期失效，此外，该试验还能揭示与时间和应力有关的电气失效模式，对于器件可靠性的保证有着重要作用，该试验需要通过专门的高温功能试验系统完成，但现有的高温功能试验系统存在一些不足，比如烘箱数量较少，在产品研发阶段不能做不同温度下的参数试验，比如不能配置不同的驱动板以检测不同的器件或者参数，这些不足显然不利于对器件可靠性的精确检测，同时也限制了高温功能试验系统使用的灵活性，对于厂家来说，更重要的在于，如果想要对器件做不同温度下的参数试验，或者想要借助高温功能试验系统检测不同的器件或者参数，就需要投入更多的财力购买其他设备，这显然是厂家不希望看到的，因此，急需提供一种既能进行不同温度下的参数试验，又能检测不同器件或者参数的高温功能试验系统。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供GaN高温功能试验系统。

GaN高温功能试验系统，包括柜体，所述柜体底部四个角的位置设置柜脚，其特征在于：所述柜体中部设置操作台，所述操作台上方设置工业控制计算机，所述工业控制计算机上方横向并排设置开始按钮、停止按钮，所述工业控制计算机两侧均设置烘箱，所述烘箱下方设置电源，所述电源与所述工业控制计算机电性连接，所述烘箱与所述电源、所述工业控制计算机均电性连接，所述开始按钮、停止按钮与所述电源、所述工业控制计算机均电性连接。

进一步的，所述烘箱的数量为4个，所述工业控制计算机两侧分别纵向设置2个烘箱。

进一步的，同侧所述烘箱之间设置测试柜。

进一步的，所述电源的数量为2组，2组所述电源分别设置于所述工业控制计算机两侧，所述烘箱与其同侧的所述电源电性连接。

进一步的，所述操作台下方设置接线柜。

进一步的，所述柜体上部一侧横向并排设置绿色状态指示灯、红色状态指示灯，所述绿色状态指示灯远所述红色状态指示灯一侧设置蜂鸣器，所述绿色状态指示灯、红色状态指示灯、蜂鸣器均与所述电源、所述工业控制计算机、所述烘箱电性连接。

进一步的，所述停止按钮远所述开始按钮一侧设置急停按钮，所述急停按钮与所述电源、所述工业控制计算机均电性连接。

进一步的，每个所述烘箱内部设置4个试验通道，每个所述试验通道内部均设置一块DAQ板和一块老化板。

本发明的GaN高温功能试验系统的有益效果为：

1、厂家可以通过工业控制计算机在4个烘箱内部设置四种不同温度，以对产品进行高温功能试验，并且可以根据需要对烘箱内的温度、温度上升时间、平衡时间等参数进行控制，很好地解决了现有高温功能试验系统不能做不同温度下的参数试验的问题，对器件可靠性的检测也更加精确；