[发明专利]电子元件作业装置及应用其的作业分类设备在审
| 申请号: | 202010116729.0 | 申请日: | 2020-02-25 |
| 公开(公告)号: | CN112305267A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
| 发明(设计)人: | 李子玮;陈永仓 | 申请(专利权)人: | 鸿劲精密股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/01;H01R43/26 |
| 代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 侯奇慧 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子元件 作业 装置 应用 分类 设备 | ||
本发明公开一种电子元件作业装置及一种应用其的作业分类设备,其中电子元件作业装置包含作业器及确动机构,该确动机构设有承置单元、扣接单元及驱动单元,承置单元以第一承置具供装配作业器,并于作业区设有第二承置具,扣接单元于第一承置具设置第一确动具,并于第二承置具设置第二确动具,第一确动具及第二确动具设有可供相互扣接的第一扣接部件及第二扣接部件,驱动单元设有驱动源以供驱动第一确动具或第二确动具旋转作动,令第一确动具的第一扣接部件与第二确动具的第二扣接部件相互扣接,以防止作业器整体受电子元件反向顶推而位移,使作业器确实对电子元件执行预设作业,达到提升作业质量的实用效益。
技术领域
本发明提供一种可使作业器确实对电子元件执行预设作业,而提升作业质量的作业装置。
背景技术
在现今,电子元件的接点日趋繁多,由数个增加到数十个不等,相对地,作业装置的测试座也必须对应配置相同数量的探针,以电性接触电子元件的接点;由于探针的内部具有弹簧,为使电子元件的接点与测试座的探针确实作电性接触,作业装置必须令一为压接器的作业器以一下压力下压电子元件,令电子元件压缩探针的弹簧,但压接器的下压力的过与不及都将影响测试质量,例如电子元件具有数十个接点及测试座具有数十个探针时,压接器即必须以较大的下压力重压电子元件,以确保电子元件的接点接触测试座的探针,进而避免电子元件被误判为不合格品。
请参阅图1,为作业装置的测试座11及压接器12的示意图,测试座11设有多个探针111,并电性连接一电路板13,以测试电子元件;压接器12装配于移动臂14,以移载待测的电子元件15至测试座11,压接器12的内部设有膜片121、气室122及下压治具123等,于气体供应源(图未示出)对气室122注入气体后,膜片121即向下凸伸变形,并顶推下压治具123作Z方向向下位移而下压电子元件15,使电子元件15于测试座11内执行测试作业;但由于测试座11的数十支探针111的弹簧(图未示出)被压缩,使得数十支探针111会对电子元件15产生一较大的反作用力,此一较大的反作用力经由电子元件15而顶推带动压接器12整组作Z方向反向位移,导致压接器12会有无法以预设的下压力压抵电子元件15的问题,以致电子元件15的部分接点无法确实接触测试座11的探针111,进而影响电子元件的测试质量。
发明内容
本发明的目的一,提供一种电子元件作业装置,包含作业器及确动机构,该确动机构设有承置单元、扣接单元及驱动单元,承置单元以第一承置具供装配作业器,并于作业区设有第二承置具,扣接单元于第一承置具设置第一确动具,并于第二承置具设置第二确动具,第一确动具及第二确动具设有可供相互扣接的第一扣接部件及第二扣接部件,驱动单元设有驱动源以供驱动第一确动具或第二确动具作动,令第一确动具的第一扣接部件与第二确动具的第二扣接部件相互扣接,以防止作业器整体受电子元件反向顶推而位移,使作业器确实对电子元件执行预设作业,达到提升作业质量的实用效益。
本发明的目的二,提供一种应用电子元件作业装置的作业分类设备,包含机台、供料装置、收料装置、作业装置、输送装置及中央控制装置,供料装置配置于机台上,并设有至少一容纳待作业电子元件的供料承置器,收料装置配置于机台上,并设有至少一容纳已作业电子元件的收料承置器,作业装置配置于机台上,并设有至少一作业器及确动机构,作业器对电子元件执行预设作业,确动机构包含承置单元、扣接单元及驱动单元,以防止作业器整体反向位移,而使作业器确实对电子元件执行预设作业,输送装置配置于机台上,并设有至少一移载电子元件的移料器,中央控制装置用以控制及整合各装置作动,以执行自动化作业,达到提升作业效能的实用效益。
附图说明
图1:现有作业装置的测试座及压接器的使用示意图。
图2:本发明作业装置的作业器及确动机构的配置图。
图3:本发明承置单元的示意图。
图4:本发明驱动单元的示意图。
图5:本发明的使用示意图(一)。
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