[发明专利]一种ToF深度测量装置、控制方法及电子设备有效
| 申请号: | 202010116700.2 | 申请日: | 2020-02-25 |
| 公开(公告)号: | CN111427048B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
| 发明(设计)人: | 王金拴;王多勇;李小龙 | 申请(专利权)人: | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/481;G01S7/4861 |
| 代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 孟学英 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 tof 深度 测量 装置 控制 方法 电子设备 | ||
1.一种ToF深度测量装置,其特征在于,包括:
发射模组,包括第一光源和第二光源,用于接收控制与处理电路的高/低电平信号和ToF图像传感器的脉宽调制信号后向目标物体发出光束;所述光束包括散斑光束和泛光光束;
采集模组,包括RGB相机和所述ToF图像传感器,用于接收经所述目标物体反射回的光束并形成电信号,所述ToF图像传感器与所述发射模组连接;
所述控制与处理电路,分别与所述发射模组以及所述采集模组连接,用于:
提供激活信号至所述RGB相机和所述ToF图像传感器,分别使所述RGB相机产生同步信号、激活所述ToF图像传感器;
接收所述RGB相机根据所述激活信号生成的同步信号,并根据所述同步信号生成触发信号和高/低电平信号;
提供所述触发信号至所述ToF图像传感器;
提供所述高/低电平信号至所述第一光源和所述第二光源以开启或关闭所述第一光源或所述第二光源;
其中,所述ToF图像传感器接收所述触发信号生成所述脉宽调制信号,并将所述脉宽调制信号传输至所述发射模组,以控制所述第一光源和所述第二光源向所述目标物体发出光束;
控制所述采集模组接收经所述目标物体反射回的光束并形成电信号;
根据所述电信号计算相位差以获取所述目标物体的距离。
2.如权利要求1所述的ToF深度测量装置,其特征在于,所述第一光源为散斑光源,用于发出斑点光束;所述第二光源为泛光光源,用于发出泛光光束。
3.如权利要求2所述的ToF深度测量装置,其特征在于,所述散斑光源包括独立开启或同步开启的第一散斑光源和第二散斑光源;所述第一散斑光源和所述第二散斑光源的斑点密度不同。
4.如权利要求2所述的ToF深度测量装置,其特征在于,所述斑点光束中的斑点是规则排列的。
5.一种控制ToF深度测量装置的方法,其特征在于,采用如权利要求1-4任一所述的装置,包括:
S1:提供激活信号至采集模组的RGB相机和ToF图像传感器,所述激活信号分别使所述RGB相机生成同步信号,激活所述ToF图像传感器;
S2:接收所述RGB相机根据所述激活信号生成的所述同步信号,并根据所述同步信号生成触发信号和高/低电平信号;
S3:提供所述触发信号至所述ToF图像传感器,提供所述高/低电平信号至发射模组的第一光源和第二光源以开启或关闭所述第一光源或所述第二光源;
S4:控制所述ToF图像传感器接收所述触发信号生成脉宽调制信号,并将所述脉宽调制信号传输至所述发射模组,用于控制所述第一光源和所述第二光源向目标物体发出光束;
S5:控制所述采集模组接收经所述目标物体反射回的光束并形成电信号;
S6:根据所述电信号计算相位差以获取所述目标物体的距离。
6.如权利要求5所述的控制ToF深度测量装置的方法,其特征在于,所述第一光源为散斑光源,用于发出斑点光束;所述第二光源为泛光光源,用于发出泛光光束。
7.如权利要求6所述的控制ToF深度测量装置的方法,其特征在于,控制所述散斑光源的第一散斑光源和第二散斑光源独立开启或同步开启;所述第一散斑光源和所述第二散斑光源的斑点密度不同。
8.如权利要求7所述的控制ToF深度测量装置的方法,其特征在于,控制所述散斑光源中斑点密度小的散斑光源单独发出光束用于远距测量;
控制所述散斑光源中斑点密度大的散斑光源单独发出光束用于近距测量;
控制所述第一散斑光源和所述第二散斑光源同时发出光束用于现密集投影。
9.如权利要求6-8任一所述的控制ToF深度测量装置的方法,其特征在于,控制所述第一光源发出斑点光束以及所述第二光源发出泛光光束用于密集投影。
10.一种电子设备,其特征在于,包括如权利要求1-4任一所述的ToF深度测量装置。
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