[发明专利]集成电路电磁发生干扰分析仪

说明书

本发明公开了集成电路电磁发生干扰分析仪，包括静电放电模块、快速群脉冲模块、射频传导发生模块以及通讯接口，所述静电放电模块的输出端与快速群脉冲模块的输入端连接，所述快速群脉冲模块的输出端与射频传导发生模块的输入端连接，所述射频传导发生模块的输出端与通讯接口的输入端连接，所述射频传导发生模块包括信号发生器、功率放大器、耦合网络以及IC端，所述信号发生器的输出端与功率放大器的输入端连接。该集成电路电磁发生干扰分析仪，通过静电放电模块和快速群脉冲模块的设计，使得本产品能够采用特殊供电方式，其实际输出电压均可从0V开始逐步往上升，可以实现更多的测试等级，满足不同被测品的供电电压。

技术领域

本发明涉及电力技术领域，具体为集成电路电磁发生干扰分析仪。

背景技术

电力是以电能作为动力的能源。发明于19世纪70年代，电力的发明和应用掀起了第二次工业化高潮。成为人类历史18世纪以来，世界发生的三次科技革命之一，从此科技改变了人们的生活。20世纪出现的大规模电力系统是人类工程科学史上最重要的成就之一，是由发电、输电、变电、配电和用电等环节组成的电力生产与消费系统。它将自然界的一次能源通过机械能装置转化成电力，再经输电、变电和配电将电力供应到各用户。

现有用于EMC电磁兼容方面的电磁发生干扰分析仪具有以下缺点，一，不满足用于集成电路的试验，电压不能够进行调节，因为其不满足集成电路EMC的标准，集成电路的供电一般都为弱电及小于等于36V，特别是一些芯片及其周围的电路一般供电电压均在5V左右，因此电磁发生干扰仪的起始电压、电流等参数均远远高于集成电路所需求的参数，当集成电路(IC)经受静电放电(ESD)时，放电回路的电阻通常都很小，无法限制放电电流，瞬间大电流会严重损伤IC，局部发热的热量甚至会融化硅片管芯，内部金属连接被烧断，钝化层受到破坏，晶体管单元被烧坏，二，没有针对于IC的测试，无法直接或间接的注入IC内部或者需要测试的点位，使得测验的数值不够精准。为此，我们提出集成电路电磁发生干扰分析仪。

发明内容

本发明的目的在于提供集成电路电磁发生干扰分析仪，以解决上述背景技术中提出现有用于EMC电磁兼容方面的电磁发生干扰分析仪具有以下缺点，一，不满足用于集成电路的试验，电压不能够进行调节，因为其不满足集成电路EMC的标准，集成电路的供电一般都为弱电及小于等于36V，特别是一些芯片及其周围的电路一般供电电压均在5V左右，因此电磁发生干扰仪的起始电压、电流等参数均远远高于集成电路所需求的参数，当集成电路(IC)经受静电放电(ESD)时，放电回路的电阻通常都很小，无法限制放电电流，瞬间大电流会严重损伤IC，局部发热的热量甚至会融化硅片管芯，内部金属连接被烧断，钝化层受到破坏，晶体管单元被烧坏，二，没有针对于IC的测试，无法直接或间接的注入IC内部或者需要测试的点位，使得测验的数值不够精准的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：集成电路电磁发生干扰分析仪，包括静电放电模块、快速群脉冲模块、射频传导发生模块以及通讯接口，所述静电放电模块的输出端与快速群脉冲模块的输入端连接，所述快速群脉冲模块的输出端与射频传导发生模块的输入端连接，所述射频传导发生模块的输出端与通讯接口的输入端连接，所述射频传导发生模块包括信号发生器、功率放大器、耦合网络以及IC端，所述信号发生器的输出端与功率放大器的输入端连接，所述功率放大器的输出端与耦合网络的输入端连接，所述耦合网络的输出端与IC端的输入端连接，所述IC端的外设配有与其相匹配的探头。

优选的，所述通讯接口配有RS232接口和RS485接口。

优选的，所述通讯接口还配有GPIB接口、USB接口以及网口。

优选的，所述探头包括同轴线连接器、屏蔽层、屏蔽延伸层、同轴线、中心导体以及介质。

优选的，所述同轴线连接器位于探头的顶部且与探头固定连接，所述屏蔽层为探头外部的线套，所述屏蔽层的内部开设有空腔，所述屏蔽层内腔的一侧固定连接有同轴线，所述屏蔽层内腔的另一侧固定连接有介质。