[发明专利]一种解析VSAN认证测试失败信息的方法和设备

说明书

本发明提供了一种解析VSAN认证测试失败信息的方法和设备，该方法包括以下步骤：将VSAN认证测试中的两个主机的日志文件进行合并，并重定向到第一文件中；根据测试失败原因将失败关键字进行分类统计，并重定向到第二文件中；依次根据第二文件中的关键字从第一文件中查找特定字符段的信息，并将信息定向到第三文件中；根据预设规则将第三文件中的信息进行分类，并将分类后的信息输出以供使用。通过使用本发明的方案，能够提高工作效率，将VSAN认证测试日志中重复的错误日志信息进行过滤筛选，便于用户更快解决问题，将最终筛选加工处理后日志信息以图形化形式展示到工作台，便于用户查阅使用，还能够对关键字不断进行积累整理完善。

技术领域

本领域涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种解析VSAN认证测试失败信息的方法和设备。

背景技术

服务器执行VSAN(分布式存储架构)认证测试，VMware要求搭建认证测试环境，认证测试环境包括两台测试主机(SUT)以及安装VSAN测试工具的主机。认证测试的执行主要在workbench工具内完成，包括一系列测试项，这些测试项测试时间从十分钟到二十四小时不等。

认证测试项执行过程中经常因为各种原因出现失败。测试环境中包含两台测试主机，若其中一台测试主机出现失败，整个测试环境的两台主机都将自动停止测试。测试工具会自动将相关的测试日志记录到日志文件目录下。VSAN认证测试主要是测试服务器以及其搭配的相关部件(如磁盘控制器，硬盘，扩展卡等)部署VSAN后能否正常工作以及是否存在潜在性能问题，所以在VSAN认证测试过程中出现测试失败的原因主要集中在硬件方面。VSAN认证测试项测试时间都持续十小时以上，所以输出的测试日志内容较多，其中存大量的日志内容与测试失败原因无关，需要从大量日志信息中查找出关于测试失败的关键信息并针对其进行失败原因分析。

使用文档编辑工具打开认证测试执行生成的日志文件，根据以往经验积累的错误关键字进行搜索筛选，遍历所有文档寻找可能有关的日志信息，但是具有以下缺点：

1)由于VSAN测试项执行时间长生成的测试日志内容多，使用常规的关键字进行搜索得出的内容也较多，且涉及到测试环境中两台主机日志都需要检索，所以检索的工作量大，需要耗费大量时间精力进行操作；

2)由于VSAN测试工具在测试失败后会自动进行多次重复尝试直到超时才停止，因此测试日志中同一个问题导致的测试白将会多次打印重复日志信息，现有方案无法对重复内容进行过滤；

3)目前VSAN认证测试工具没有查看测试日志的图形化界面，且每台测试主机的测试日志涉及多个日志文件，所以定位问题查看日志信息信息需要逐层到日志目录下并打开多个文档进行查看，操作复杂，且容易混淆；

4)目前在搜索测试失败信息时使用的关键字的积累整理需凭测试人员经验积累，无法准确的分类整理完善，不便于关键字知识库的积累，对VSAN认证测试失败原因的定位效率影响较大。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种解析VSAN认证测试失败信息的方法和设备，通过使用本发明的方法，能够提高工作效率，将VSAN认证测试日志中重复的错误日志信息进行过滤筛选，便于用户更快解决问题，将最终筛选加工处理后日志信息以图形化形式展示到工作台，便于用户查阅使用，还能够对关键字不断进行积累整理完善。

基于上述目的，本发明的实施例的一个方面提供了一种解析VSAN认证测试失败信息的方法，包括以下步骤：

将VSAN认证测试中的两个主机的日志文件进行合并，并重定向到第一文件中；

根据测试失败原因将失败关键字进行分类统计，并重定向到第二文件中；

依次根据第二文件中的关键字从第一文件中查找特定字符段的信息，并将信息定向到第三文件中；

根据预设规则将第三文件中的信息进行分类，并将分类后的信息输出以供使用。