[发明专利]显示面板及其裂痕检测方法、显示装置

说明书

本发明提出一种显示面板及其裂痕检测方法、显示装置，其中，显示面板包括：显示区域，显示区域包括阵列基板层和触控检测层，阵列基板层设置有数据线；围绕显示区域的非显示区域，非显示区域包括与阵列基板层对应设置的第一裂缝检测走线和与触控检测层对应设置的第二裂缝检测走线，第一裂缝检测走线的第一端和第二裂缝检测走线的第一端均与数据线相连；第一输入端、第二输入端和控制电路，第一输入端通过控制电路连接第一裂缝检测走线的第二端，第二输入端通过控制电路连接第二裂缝检测走线的第二端。由此，可同时实现对阵列基板层的裂痕和触控检测层的裂痕的检测，进而可降低触控检测层的裂痕带来的制程风险，提高显示面板的裂痕检测的准确性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、一种显示装置以及一种显示面板的裂痕检测方法。

背景技术

柔性AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极管)的缺点之一是边缘比较薄弱，易产生裂痕(即Crack)，为了检测显示面板的裂痕情况，相关技术通常在阵列基板层上设计裂痕检测环路，以检测显示面板的裂痕情况。

但是，相关技术存在的问题在于，仅能够对阵列基板层上的裂痕进行检测，而无法对触控检测层的裂痕进行检测，从而使得显示面板的裂痕检测不够准确。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种显示面板，以实现对阵列基板层的裂痕和触控检测层的裂痕进行检测，提高显示面板的裂痕检测的准确性。

本发明的第二个目的在于提出一种显示装置。

本发明的第三个目的在于提出一种显示面板的裂痕检测方法。

为达上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种显示面板，包括：显示区域，所述显示区域包括阵列基板层和触控检测层，所述阵列基板层设置有数据线；围绕所述显示区域的非显示区域，所述非显示区域包括与所述阵列基板层对应设置的第一裂缝检测走线和与所述触控检测层对应设置的第二裂缝检测走线，所述第一裂缝检测走线的第一端和所述第二裂缝检测走线的第一端均与所述数据线相连；第一输入端、第二输入端和控制电路，所述第一输入端通过所述控制电路连接所述第一裂缝检测走线的第二端，所述第二输入端通过所述控制电路连接所述第二裂缝检测走线的第二端。

根据本发明实施例的显示面板，显示区域包括阵列基板层和触控检测层，阵列基板层设置有数据线，非显示区域包括与阵列基板层对应设置的第一裂缝检测走线和与触控检测层对应设置的第二裂缝检测走线，第一裂缝检测走线的第一端和第二裂缝检测走线的第一端均与数据线相连，第一输入端通过控制电路连接第一裂缝检测走线的第二端，第二输入端通过控制电路连接第二裂缝检测走线的第二端。由此，本发明实施例的显示面板可以同时实现对阵列基板层的裂痕和触控检测层的裂痕的检测，进而可降低触控检测层的裂痕带来的制程风险，提高显示面板的裂痕检测的准确性。

根据本发明的一个实施例，所述第二裂缝检测走线的第二端还接地。

根据本发明的一个实施例，所述控制电路包括：第一晶体管，所述第一晶体管的第一极连接所述第一裂缝检测走线的第二端，所述第一晶体管的第二极连接所述第一输入端，所述第一晶体管的控制极连接所述第二输入端；第二晶体管，所述第二晶体管的第一极连接所述第二裂缝检测走线的第二端，所述第二晶体管的第二极连接所述第二输入端，所述第二晶体管的控制极连接所述第一输入端。

根据本发明的一个实施例，所述控制电路用以，在裂缝检测状态下的每个检测帧周期内，先将所述第一输入端接收到的第一输入信号写入所述第一裂缝检测走线的第二端，再将所述第二输入端接收到的第二输入信号写入所述第二裂缝检测走线的第二端，或者，所述控制电路先将所述第二输入端接收到的第二输入信号写入所述第二裂缝检测走线的第二端，再将所述第一输入端接收到的第一输入信号写入所述第一裂缝检测走线的第二端。