[发明专利]采样方法和采样装置

说明书

本申请提供了一种采样方法，应用于包括第一ADC的测量系统，第一ADC分别与第一传感器和第二传感器连接，第一传感器用于输出第一模拟信号，第二传感器用于输出第二模拟信号，所述方法包括：在第一时段内控制所述第一ADC对所述第一模拟信号进行采样；在所述第一时段的终止时刻将所述第一ADC的输入端从所述第一传感器切换至所述第二传感器；在第二时段内控制所述第一ADC对所述第二模拟信号进行采样，所述第二时段位于所述第一时段之后。在上述测量系统中，ADC在处理器的控制下在不同的时段对不同的传感器进行采样，实现了一个ADC的分时复用。从而减少了智能设备中ADC的使用量，在实现多种功能的同时减小了智能设备的成本。

技术领域

本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种采样方法和采样装置。

背景技术

随着技术发展，一些传统的电子设备由于安装了数字芯片变成了智能设备。例如，智能打印机除了具备传统的打印功能之外，还能够监测电压、温度、纸张数量等信息，这些信息通常是通过传感器获取的，由于传感器输出的信号为模拟信号，而智能打印机负责处理上述信息的芯片通常是数字芯片，因此，智能打印机还需要模拟数字转换器（analog-to-digitalconverter，ADC）对模拟信号进行采样，将模拟信号转换为数字信号才能处理上述信息。

由于传感器通常只能监测一种或少量的几种信息，智能设备为了实现更多的功能，需要多种传感器监测不同的信息，从而需要多个ADC将多种传感器输出的模拟信号转换为数字信号，从而导致智能设备的成本增加。

发明内容

本申请提供了一种采样方法和采样装置，能够减少智能设备上ADC的使用数量。

第一方面，提供了一种采样方法，应用于包括第一ADC的测量系统，所述第一ADC分别与第一传感器和第二传感器连接，所述第一传感器用于输出第一模拟信号，所述第二传感器用于输出第二模拟信号，所述方法包括：在第一时段内控制所述第一ADC对所述第一模拟信号进行采样；在所述第一时段的终止时刻将所述第一ADC的输入端从所述第一传感器切换至所述第二传感器；在第二时段内控制所述第一ADC对所述第二模拟信号进行采样，所述第二时段位于所述第一时段之后。

在上述测量系统中，多个传感器共用一个ADC，分时输出模拟信号；ADC在处理器的控制下在不同的时段对不同的传感器进行采样，实现了一个ADC的分时复用。相比于每个传感器配置一个ADC的方案，减少了智能设备中ADC的使用量，在实现多种功能的同时减小了智能设备的成本。

第二方面，提供了一种采样装置，用于执行上述第一方面的方法。具体地，该装置包括用于执行第一方面的方法的功能模块。

第三方面，提供了一种终端设备，包括处理器和存储器。该存储器用于存储计算机程序，该处理器用于调用并运行该存储器中存储的计算机程序，执行上述第一方面中的方法。

第四方面，提供了一种芯片，用于执行上述第一方面中的方法。该芯片包括：处理器，用于从存储器中调用并运行计算机程序，使得安装有该芯片的设备用于执行上述第一方面中的方法。

第五方面，提供了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序，该计算机程序使得计算机执行上述第一方面中的方法。

第六方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序指令，该计算机程序指令使得计算机执行上述第一方面中的方法。

附图说明

图1是本申请提供的一种测量系统；

图2是本申请提供的一种信号输出时间分配方法；

图3是本申请提供的一种采样方法；

图4是本申请提供的另一种测量系统；

图5是本申请提供的一种采样装置；

图6是本申请提供的另一种采样装置。