[发明专利]一种光学检测装置及其光学检测方法有效
| 申请号: | 202010095792.0 | 申请日: | 2020-02-17 |
| 公开(公告)号: | CN111473736B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
| 发明(设计)人: | 吴精文 | 申请(专利权)人: | 住华科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
| 地址: | 中国台湾台南*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光学 检测 装置 及其 方法 | ||
1.一种光学检测装置,其特征在于,包括:
一光源发射器,依序发出两入射光至一薄膜;
一光学感测器,用以接收该入射光照射到该薄膜后依序反射的两反射光;以及
一处理器,用以依据该两反射光计算该薄膜与该光学感测器之间的一第一距离与一第二距离,并且计算该第一距离与该第二距离的一变动量,其中当该变动量大于或等于一阈值时,该处理器判断该薄膜的传送状况为正常。
2.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:当该变动量小于一阈值时,该处理器判断该第一距离与该第二距离是否小于一预设距离,其中当该第一距离与该第二距离小于该预设距离并且持续一预设时间时,该处理器判断该薄膜的该传送状况为异常,并且该光学检测装置发出一膜面断裂警示通知。
3.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:当该处理器判断该第一距离与该第二距离并未小于该预设距离时,该处理器判断该第一距离与该第二距离是否大于该预设距离,其中当该第一距离与该第二距离大于该预设距离并且持续该预设时间时,该处理器判断该薄膜的该传送状况为异常,并且该光学检测装置发出一松脱警示通知。
4.根据权利要求3所述的光学检测装置,其特征在于:当
5.根据权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于,还包括一第一滚轮与一第二滚轮是以一速度传送该薄膜,并且该预设时间与该速度之间为反比关系。
6.根据权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:该阈值为该第一距离与该第二距离
7.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于:该第一滚轮与该第二滚轮之间的距离为D1,该第一滚轮与该第二滚轮的半径为D2,并且D1为D2的4.5倍至7倍。
8.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于,该第一滚轮与该第二滚轮122的一半径为15cm至40cm;或该第一滚轮与该第二滚轮之间的距离为80cm至200cm。
9.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于,该第一滚轮与该第二滚轮沿着一第一方向配置用以传送该薄膜,且该光源发射器的该入射光与该第一方向的夹角为40度至55度。
10.根据权利要求5所述的光学检测装置,其特征在于,该光学感测器配置于该第一滚轮与该第二滚轮的垂直平分线上。
11.一种光学检测方法,用于检测一薄膜,其特征在于,该光学检测方法包括:
依序发出两入射光至该薄膜;
接收该入射光照射到该薄膜后依序所反射的两反射光;
依据该两反射光计算该薄膜与光学感测器之间的一第一距离与一第二距离;以及
计算该第一距离与该第二距离的一变动量,其中当该变动量大于或等于一阈值时,判断该薄膜的传送状况为正常。
12.根据权利要求11所述的光学检测方法,其特征在于,还包括:
当该变动量小于一阈值时,判断该第一距离与该第二距离是否小于一预设距离;以及
当该第一距离与该第二距离小于该预设距离并且持续一预设时间时,判断该薄膜的该传送状况为异常,并且发出一膜面断裂警示通知。
13.根据权利要求12所述的光学检测方法,其特征在于,还包括:
当判断该第一距离与该第二距离并未小于该预设距离时,进一步判断该第一距离与该第二距离是否大于该预设距离;以及
当该第一距离与该第二距离大于该预设距离并且持续该预设时间时,判断该薄膜的该传送状况为异常,并且发出一松脱警示通知。
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