[发明专利]一种磁盘阵列可靠性测试方法、系统、终端及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010094594.2 申请日: 2020-02-16
公开(公告)号: CN111274077A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 张云云 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 张营磊
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁盘阵列 可靠性 测试 方法 系统 终端 存储 介质
【说明书】:

发明提供一种磁盘阵列可靠性测试方法、系统、终端及存储介质,所述方法包括:获取集群内的硬盘id和硬盘id对应的磁盘阵列信息;随机选取目标硬盘id并根据所述目标硬盘id向目标硬盘注入故障参数;判断目标硬盘的对应磁盘阵列的热备盘是否对所述目标硬盘的数据进行同步备份:若是,则判定目标硬盘对应的磁盘阵列通过测试。本发明能够实现硬盘故障注入测试的自动化,可以减少人员成本,提高故障注入次数,极大提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及存储技术领域,具体涉及一种磁盘阵列可靠性测试方法、系统、终端及存储介质。

背景技术

存储系统对硬盘的依赖比较大,若存在硬盘故障,可能会影响数据的正确存储,严重者会导致数据丢失。因此当出现硬盘故障时,需要及时的进行热备替换,并确保数据转移的正常性,在取代故障硬盘的新硬盘插入后,需要保证正确的加入原磁盘阵列,并且原热备盘中的数据正确的回拷,回拷完毕之后同步为热备盘。

当前存储系统硬盘故障注入的测试方法是以手工测试为主,每次进行硬盘故障注入后,需要等待数据的同步,待同步一段时间或同步完成后更换故障硬盘,新硬盘重新加入RAID,然后等待数据的回拷,最后确认原热备盘恢复。整个测试过程耗时长,根据测试硬盘分类以及运行时长数据同步时间不固定,且需要测试人员长时间看守,造成人员浪费,导致RAID可靠性测试方面需要较长时间或测试不充分。此外,手工执行导致重复验证困难,可能会遗漏部分小概率的问题到后端,造成现场问题。

发明内容

针对现有技术的上述不足,本发明提供一种磁盘阵列可靠性测试方法、系统、终端及存储介质,以解决上述技术问题。

第一方面,本发明提供一种磁盘阵列可靠性测试方法,包括:

获取集群内的硬盘id和硬盘id对应的磁盘阵列信息;

随机选取目标硬盘id并根据所述目标硬盘id向目标硬盘注入故障参数;

判断目标硬盘的对应磁盘阵列的热备盘是否对所述目标硬盘的数据进行同步备份:

若是,则判定目标硬盘对应的磁盘阵列通过测试。

进一步的,所述方法还包括:

创建集群;

对所述集群进行初始化并创建磁盘阵列;

创建卷并将所述卷映射到主机后运行IO。

进一步的,所述获取集群内的硬盘id和硬盘id对应的磁盘阵列信息,包括:

调用paramiko中的SSH命令登录集群节点;

获取登录节点上的硬盘id和硬盘id对应的磁盘阵列热备盘信息。

进一步的,所述向目标硬盘注入故障参数,包括:

修改目标硬盘的环境变量。

进一步的,所述判断目标硬盘的对应磁盘阵列的热备盘是否对所述目标硬盘的数据进行同步备份,包括:

校验目标硬盘的对应磁盘阵列的热备盘是否变更为执行数据同步操作的成员盘:

若是,则判定目标硬盘的对应磁盘阵列的热备盘对所述目标硬盘的数据进行同步备份;

若否,则输出目标硬盘的对应磁盘阵列的热备盘失效。

进一步的,所述方法还包括:

查询目标硬盘的对应磁盘阵列的数据同步备份情况;

若数据同步备份完成则撤销对目标硬盘注入的故障参数;

判断目标硬盘是否重新加入对应磁盘阵列并从热备盘回拷数据:

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