[发明专利]非接触姿态测量方法以及存储介质

说明书

本申请公开了一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质，用于对被测物体的姿态进行测量。其中，非接触姿态测量方法包括：获取第一光学准直装置(10)与被测物体的第一测量面(S1)之间的第一角度偏差信息，其中第一角度偏差信息用于指示第一光学准直装置(10)的轴线与第一测量面(S1)的法线之间的角度偏差；获取与第一光学准直装置(10)的姿态相关的第一测量信息；以及根据第一角度偏差信息以及第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。

技术领域

本申请涉及姿态测量技术领域，特别是涉及一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质。

背景技术

现有的对物体的姿态进行测量的方式为接触式姿态测量，例如将陀螺仪放置在被测物体上，用以测量被测物体的姿态。然而，在实际的应用场景中，会存在无法直接将陀螺仪放置在被测物体上的情况。因此，需要一种非接触式姿态测量方式，使得在不与被测物体接触的情况下，确定与被测物体相关的姿态信息。

但是，在不与被测物体接触的情况下，如何获取与被测物体的姿态相关的测量信息，并且在获取到与被测物体的姿态相关的测量信息的情况下，如何确定被测物体的姿态信息的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本公开提供了一种非接触姿态测量系统和姿态信息获取设备，以至少解决现有技术中存在的在不与被测物体接触的情况下，如何获取与被测物体相关的姿态信息，并且在获取到与被测物体相关的姿态信息的情况下，如何确定被测物体的姿态的技术问题。

根据本申请的一个方面，提供了一种非接触姿态测量方法，用于对被测物体的姿态进行测量，包括：获取第一光学准直装置与被测物体的第一测量面之间的第一角度偏差信息，其中第一角度偏差信息用于指示第一光学准直装置的轴线与第一测量面的法线之间的角度偏差；获取与第一光学准直装置的姿态相关的第一测量信息；以及根据第一角度偏差信息以及第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。

根据本申请的另一个方面，提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时由处理器执行以上所述的方法。

根据本申请的另一个方面，提供了一种非接触姿态测量装置，包括：处理器；以及存储器，与处理器连接，用于为处理器提供处理以下处理步骤的指令：获取第一光学准直装置与被测物体的第一测量面之间的第一角度偏差信息，其中第一角度偏差信息用于指示第一光学准直装置的轴线与被测物体的第一测量面的法线之间的角度偏差；获取与第一光学准直装置的姿态相关的第一测量信息；以及根据第一角度偏差信息以及第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。。

根据本实施例提供的非接触姿态测量方法，首先通过光学准直装置获取光学准直装置与被测物体的测量面之间的角度偏差信息。然后获取与光学准直装置的姿态相关的测量信息。最后根据角度偏差信息以及测量信息确定被测物体的姿态信息。从而无需将光学准直装置与被测物体接触也可以测量出被测物体的姿态信息。进而解决了在不与被测物体接触的情况下，如何获取与被测物体的姿态相关的测量信息，并且在获取到与被测物体的姿态相关的测量信息的情况下，如何确定被测物体的姿态信息的技术问题。

根据下文结合附图对本申请的具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本申请的上述以及其他目的、优点和特征。

附图说明

后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本申请的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：

图1是根据本申请实施例1所述的非接触姿态测量系统的结构示意图；

图2是根据本申请实施例1所述的非接触姿态测量方法的流程示意图；

图3是根据本申请实施例1所述的利用非接触姿态测量系统的第一光学准直装置朝向被测物体的第一测量面的示意图；