[发明专利]晶硅太阳能电池片光衰测试装置

说明书

本发明提供晶硅太阳能电池片光衰测试装置，主要涉及检测设备领域。晶硅太阳能电池片光衰测试装置，包括箱体，所述箱体底部安装下炉体，所述箱体顶部安装上炉体，所述上炉体与下炉体之间设置输送装置，所述下炉体包括排风系统与温度监测装置，所述上炉体包括强光源、隔热装置，所述输送装置两侧设置吹气口，所述吹气口吹入空气由所述排风系统排出。本发明的有益效果在于：本发明能够极大的缩短晶体硅太阳能电池片抗光衰能力的检测时间，从而减少检测出不合格产品时生产线生产的残次品数量，使操作人员可以及时的调整生产参数，大大减少生产损失。

技术领域

本发明主要涉及检测设备领域，具体是晶硅太阳能电池片光衰测试装置。

背景技术

晶体硅太阳能电池片是目前太阳能电池市场的主流产品。由于硅晶体生长过程中引入了杂质，对电池的初期光照会导致其中的掺杂剂和氧、铁等杂质形成复合中心，从而使硅片的少子寿命降低，引起电池转换效率下降，产生光衰现象。随着光伏技术的发展，晶硅太阳能电池的转换效率越来越高，光致衰减对太阳电池的影响也越来越大，终端市场对多晶硅太阳能电池的光衰率有严格的要求，因此，在多晶硅太阳能电池的生产过程中，需要对成品晶体硅太阳能电池片的抗光衰能力进行实时测试，目前光衰测试箱测试时间需要几十个小时才能出具测试结果，而抗光衰能力的测试是伴随着生产同时进行的，一旦发现性能不达标的问题，生产线在几十个小时内已经生产了大量的残次品，无法及时的调整生产参数，从而造成巨大的损失。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明提供了晶硅太阳能电池片光衰测试装置，它能够极大的缩短晶体硅太阳能电池片抗光衰能力的检测时间，从而减少检测出不合格产品时生产线生产的残次品数量，使操作人员可以及时的调整生产参数，大大减少生产损失。

本发明为实现上述目的，通过以下技术方案实现：

晶硅太阳能电池片光衰测试装置，包括箱体，所述箱体底部安装下炉体，所述箱体顶部安装上炉体，所述上炉体与下炉体之间设置输送装置，所述下炉体包括排风系统与温度监测装置，所述上炉体包括强光源、隔热装置，所述隔热装置位于强光源与输送装置之间，所述输送装置两侧设置吹气口，所述吹气口吹入空气由所述排风系统排出。

所述隔热装置为透光壳体，所述透光壳体底部为玻璃，所述隔热装置内为缓冲腔，所述缓冲腔一端接入风源，所述缓冲腔另一端设置排风口。

所述强光源为LED灯板。

所述强光源顶部设置水冷板，所述水冷板内通入循环冷却水。

所述输送装置为线性设置的一排传动辊，所述下炉体一侧设置驱动电机，所述驱动电机用于通过传动装置驱动传动辊转动。

所述传动辊为空心传动辊，所述传动辊侧壁上开设若干气孔，所述传动辊一端接入气管，所述气管接入端与所述传动辊进气口转动接触。

所述排风系统包括排风腔、排风管和排风机，所述排风腔位于所述输送装置下方，所述排风管连通所述排风腔底部与外界，所述排风机安装在排风腔中部。

所述排风腔底部为倒锥形。

所述上炉体外侧设置炉盖，所述箱体顶面与炉盖之间设置举升动力装置。

对比现有技术，本发明的有益效果是：

本发明通过强光源替代卤素灯来进行抗光衰能力的测试，将测试时间由10-30小时缩短到2小时内，极大的节省了测试时间。一旦产生测试产品不合格的情况，就可以迅速的对生产工艺参数进行调整，从而减少生产出残次品的数量，相对于目前的检测方式来说极大的节省了损失。针对强光源相对于卤素灯发热更严重的问题，为防止晶硅太阳能电池片热衰减，为本装置配置隔热与冷却装置，保障晶硅太阳能电池片的衰减完全来自于光照，从而保障光衰测试的准确性。

附图说明

附图1是本发明主视结构示意图；