[发明专利]一种芯片烧录检测方法、系统和计算机可读存储介质

说明书

本发明提供一种芯片烧录检测方法、系统和计算机可读存储介质，所述方法包括：接收烧录完成的PCB板，所述PCB板上排布有多个芯片；对所述PCB板上的各个芯片分别进行多元化检测得到多元化检测结果，所述多元化检测包括外观检测、硬件检测以及程序检测；结合属性转换表对各个芯片的多元化检测结果进行属性值转换，得到对应的属性值；基于得到的属性值分别对PCB板上的各个芯片进行标记，以使质检员直观查看各个芯片的烧录检测结果。本发明通过将检测结果标记在对应的芯片上，以便于质检员快速且准确地筛选出合格或不合格的芯片，降低了质检员的质检难度。

技术领域

本发明涉及芯片烧录技术领域，尤其涉及一种芯片烧录检测方法、系统和计算机可读存储介质。

背景技术

目前市场上大部分的电子产品均需要使用芯片进行控制，因此需要对芯片进行程序的烧录。

在汽车ECU模块、空调控制模块等控制设备的生产领域，需要在电路组装好之后将相关控制逻辑程序烧录到芯片中。烧录芯片时，需要将芯片或者相关电路板固定在夹具等仪器上，并与安装在夹具上的烧录器连接好，然后操作上位机来控制烧录器对芯片进行烧录，并在烧录完毕之后将芯片或电路板从夹具上拆下，完成一个芯片的烧录工作。

同一批次的控制设备的硬件结构是完全相同的，需要烧录到芯片中的控制逻辑程序也是完全相同的，因此在批量生产控制设备时，对芯片的烧录是一项机械重复的繁琐工作。传统多是采用人工方式来实现的。首先，质检员在烧录芯片时需要一一对应芯片的软件序号和电路板上芯片的位置号，操作繁琐且复杂，而且每次只能烧录一个芯片，工作效率低，无法达到大批量生产的要求；其次，在烧录过程中质检员容易将软件序号和芯片位置号对应错误，造成芯片产品的不良。因此在芯片烧录完成后，还需要及时对烧录完成的芯片进行良率检测。目前的检测方式多是采用专门的检测设备对芯片烧录的程序进行检测，检测方式较为单一，检测的结果只有合格与不合格两种，不能实现对芯片烧录结果的多元化检测。另外，在对一版PCB板上的多个芯片进行批量烧录检测时，所有芯片的检测结果均存储在检测设备中，质检员只能通过查看检测设备来获知各个芯片的检测结果，无疑增加了质检员筛选PCB板上芯片的难度，甚至可能出现筛选出错的现象。

发明内容

为了解决上述至少一个技术问题，本发明提出了一种芯片烧录检测方法、系统和计算机可读存储介质。

为了实现上述目的，本发明第一方面提出了一种芯片烧录检测方法，所述方法包括：

接收烧录完成的PCB板，所述PCB板上排布有多个芯片；

对所述PCB板上的各个芯片分别进行多元化检测得到多元化检测结果，所述多元化检测包括外观检测、硬件检测以及程序检测；

结合属性转换表对各个芯片的多元化检测结果进行属性值转换，得到对应的属性值；

基于得到的属性值分别对PCB板上的各个芯片进行标记，以使质检员直观查看各个芯片的烧录检测结果。

本方案中，对所述PCB板上的各个芯片分别进行多元化检测得到多元化检测结果，具体包括：

基于完整的芯片样本对PCB板上每个芯片的残缺率进行计算；

判断每个芯片的残缺率是否超过预设的残缺阀值，如果目标芯片的残缺率超过预设的残缺阀值，则其外观检测结果为不合格，如果目标芯片的残缺率未超过预设的残缺阀值，则其外观检测结果为合格。

本方案中，对所述PCB板上的各个芯片分别进行多元化检测得到多元化检测结果，具体还包括：

分别对PCB板上的各个芯片进行上电；

采用万用表分别检测各个芯片的金属端子的电平；

判断目标金属端子的电平是否落入预设范围，如果落入，则目标金属端子的检测结果为合格；如果未落入，则目标金属端子的检测结果为不合格；