[发明专利]触控显示装置及其检测方法

权利要求书

1.一种触控显示装置，其特征在于，包括：

一显示模块，具有多个像素单元；

一触控层，具有多个触控电极，所述多个触控电极沿着一第一方向排成X列，沿着一第二方向排成Y行，X、Y为正整数；

多条栅极线，分别耦接至所述像素单元；

多条迹线，分别耦接至所述多个触控电极；

一检测电路，具有多个开关单元，每一所述开关单元分别电性连接至所述迹线；

一第一电平信号、一第二电平信号，分别电性连接至所述开关单元；

一第一控制信号、一第二控制信号，分别电性连接至所述开关单元；

其中，于所述第一方向或所述第二方向，相邻两所述触控电极耦接的所述电平信号不同；

所述多个触控电极包括Y/2组，每相邻2行中的所述触控电极作为一组，所述第一控制信号电性连接至奇数组所述触控电极，所述第二控制信号电性连接至偶数组所述触控电极。

2.如权利要求1所述的触控显示装置，其特征在于，每一所述开关单元别具有一第一端、一第二端以及一控制端，其中，

每一所述开关单元的所述第一端电性连接至所述迹线，所述第二端分别电性连接至所述第一电平信号或所述第二电平信号，所述控制端分别电性连接至所述第一控制信号或所述第二控制信号。

3.如权利要求1所述的触控显示装置，其特征在于，于一第一测试期间，所述第一控制信号为一第一高电位，所述第二控制信号为一第一低电位，所述第一电平信号为一第二低电位，所述第二电平信号为一第二高电位。

4.如权利要求1所述的触控显示装置，其特征在于，于一第二测试期间，所述第一控制信号为一第一高电位，所述第二控制信号为一第一低电位，所述第一电平信号为一第二高电位，所述第二电平信号为一第二低电位。

5.如权利要求1所述的触控显示装置，其特征在于，于一第三测试期间，所述第一控制信号为一第一低电位，所述第二控制信号为一第一高电位，所述第一电平信号为一第二低电位，所述第二电平信号为一第二高电位。

6.如权利要求1所述的触控显示装置，其特征在于，于一第四测试期间，所述第一控制信号为一第一低电位，所述第二控制信号为一第一高电位，所述第一电平信号为一第二高电位，所述第二电平信号为一第二低电位。

7.一种触控显示装置的检测方法，所述触控显示装置为权利要求1所述的触控显示装置，其特征在于，所述检测方法包括：

先后分别将所述第一控制信号及第二控制信号设置为致能电位，致能所述开关单元；

提供所述第一电平信号及所述第二电平信号，使得于所述第一方向或所述第二方向，相邻两所述触控电极耦接的所述第一电平信号或所述第二电平信号的电位不同。

8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，于一第一测试期间，所述第一控制信号为一第一高电位，所述第二控制信号为一第一低电位，所述第一电平信号为一第二低电位，所述第二电平信号为一第二高电位。

9.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，于一第二测试期间，所述第一控制信号为一第一高电位，所述第二控制信号为一第一低电位，所述第一电平信号为一第二高电位，所述第二电平信号为一第二低电位。

10.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，于一第三测试期间，所述第一控制信号为一第一低电位，所述第二控制信号为一第一高电位，所述第一电平信号为一第二低电位，所述第二电平信号为一第二高电位。

11.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，于一第四测试期间，所述第一控制信号为一第一低电位，所述第二控制信号为一第一高电位，所述第一电平信号为一第二高电位，所述第二电平信号为一第二低电位。