[发明专利]一种SERDES单粒子功能中断截面的测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种SERDES单粒子功能中断截面的测试方法，其特征在于，包括：

步骤S1：控制被测SERDES运行于近端环回模式，初始化SEFI计数变量K为0，用高能粒子按注量率P辐照被测SERDES并开始统计总注量Q；

步骤S2：若高能粒子总注量Q达到预定值，预定值满足预设值中对高能粒子总注量的要求，则转步骤S9，否则转步骤S3；

步骤S3：控制被测SERDES关闭PRBS产生器和PRBS检测器，传输COMMA码并开启字界对齐功能；

步骤S4：等待T时间，检测被测SERDES指示是否完成字界对齐，如果被测SERDES指示未完成字界对齐，则K值增1，转步骤S8；如果被测SERDES指示完成字界对齐，则转步骤S5；

步骤S5：配置被测SERDES停止传输COMMA码，关闭字界对齐功能，产生和检测指定码型的PRBS码；

步骤S6：配置被测SERDES开启字界对齐功能；

步骤S7：等待T时间，检测被测SERDES指示是否完成字界对齐，如果被测SERDES指示完成字界对齐，则K值增1，转步骤S8；如果被测SERDES指示未完成字界对齐，则转步骤S2；

步骤S8：重启被测SERDES，控制被测SERDES运行于近端环回模式，转步骤S2；

步骤S9：停止高能粒子辐照，计算被测SERDES的单粒子功能中断截面。

2.根据权利要求1所述的SERDES单粒子功能中断截面的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中，约束P×T1，T是被测SERDES在正常工作情况下开始传输COMMA码到完成字界对齐所花费的最长时间。

3.根据权利要求1所述的SERDES单粒子功能中断截面的测试方法，其特征在于，所述步骤S9中，计算被测SERDES的单粒子功能中断截面C＝K/Q。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的SERDES单粒子功能中断截面的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中用高能粒子按9000个粒子·cm^-2s^-1的注量率辐照被测SERDES并开始统计总注量Q。

5.一种基于权利要求1至4任意一项所述方法的SERDES单粒子功能中断截面的测试系统，其特征在于，连接被测SERDES，包括：

复位和启动单元，用来控制被测SERDES复位和启动；

第一配置单元，用来控制被测SERDES配置为近端环回模式；

第二配置单元，用来配置被测SERDES的PRBS产生器产生指定码型的PRBS码，配置被测SERDES的PRBS检测器检测指定码型的PRBS码，配置被测SERDES传输COMMA码；

检测单元，用来检测被测SERDES是否完成字界对齐的指示；

计算单元，用来进行变量操作、逻辑判断和计算，统计单粒子功能中断数量。

6.根据权利要求5所述的SERDES单粒子功能中断截面的测试系统，其特征在于，还包括计时单元，用来计算等待T时间。

7.根据权利要求5所述的SERDES单粒子功能中断截面的测试系统，其特征在于，所述PRBS码的指定码型包括PRBS7、PRBS15、PRBS23、PRBS31码型，但不含可以完成字界对齐的码型。