[发明专利]一种增材产品残余应力测试方法在审
| 申请号： | 202010083066.7 | 申请日： | 2020-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN111207869A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 郭金花 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00;G01N23/2005;G01N23/20 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李翔 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 产品 残余 应力 测试 方法 | ||
1.一种增材产品残余应力测试方法，其特征在于，包括如下步骤，
样品安装：将样品与电解装置的一极相连，电解装置的另一极与电解液相连；
电解抛光：调节电解装置电流为0.5～3.5A，先对样品表面进行电解抛光处理10～30s，然后对样品逐层进行电解剥层处理；
残余应力测量：采用X射线对样品沿剥层深度方向进行残余应力测量，其中，残余应力满足如下关系式，
E为弹性模量，μ为泊松比，θ0为无应力时的布拉格角，θ为有应力时的布拉格角，k为应力常数，m为应力因子。
2.根据权利要求1所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述对样品逐层进行电解剥层处理中，电解液为饱和的氯化钠溶液，电压为6.5～10.5V，电流为0.5～1.25A，每层处理时间为1.5～2.5min。
3.根据权利要求1所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述对样品逐层进行电解剥层处理中，单次剥层的深度为80～150μm。
4.根据权利要求1所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述残余应力测量中，X射线的入射角为25～45°。
5.根据权利要求1所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述残余应力测量中，X射线的穿透深度为10.3～11.5μm。
6.根据权利要求1所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述先对样品表面进行电解抛光处理10～30s，抛光后的样品表面粗糙度Ra＜10μm。
7.根据权利要求1所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述增材产品为具有晶体结构的金属产品。
8.根据权利要求7所述的增材产品残余应力测试方法，其特征在于，所述金属产品包括但不限于钢铁材料、铝合金、钛合金材料。
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