[发明专利]基于计算光学的OCT测量成像方法有效

专利信息
申请号: 202010081697.5 申请日: 2020-02-06
公开(公告)号: CN111289470B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 凌玉烨;周传清;王梦媛 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01N21/27;G01B9/02
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 计算 光学 oct 测量 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种基于计算光学的OCT测量成像方法,其特征在于,首先通过傅里叶域OCT系统对样品进行光栅扫描干涉成像,然后使用光电转换装置对成像得到的谱域干涉条纹进行光电转换和多点采样;在得到离散光谱信号后进行约束优化计算,最终实现超过其物理带宽的超分辨率图像重建;

逆问题数学模型是指:其中:代表原始信号,代表所优化的目标函数,代表任意约束;

所述的多点采样是指:对相干光谱在数模转换器中进行过采样,即超奈奎斯特采样频率的采样以获取尽可能多的采样点N,得到低分辨率的离散光谱信号;

所述的约束优化计算是指:将离散光谱信号代入逆问题数学模型中进行优化迭代求解,实现超过其物理带宽的超分辨率图像重建。

2.根据权利要求1所述的OCT测量成像方法,其特征是,所述的光电转换装置为光电探测仪或光电耦合摄像机等装置对成像得到的谱域干涉条纹进行光电转换,获得扫描图像的相干光谱。

3.根据权利要求1所述的OCT测量成像方法,其特征是,所述的傅里叶域OCT系统将光源发出的低相干光信号通过光分束耦合器分为两束,分别通过在参考反射镜和样品反射后,两臂的反射光再次通过耦合器耦合成一束并输出,经光电探测、数模转换和约束优化计算,重建得到高分辨率图像。

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